Pascal and Francis Bibliographic Databases

Help

Search results

Your search

au.\*:("CUCUREZEANU I")

Results 1 to 4 of 4

  • Page / 1
Export

Selection :

  • and

CARTES THERMIQUES DES DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS OBTENUES PAR INTERFEROMETRIE HOLOGRAPHIQUESUCIU P; CHISLEAG R; CUCUREZEANU I et al.1977; BUL. INST. POLITEH. "GHEORGHE GHEORGHIU-DEJ" BUCURESTI, ELECTROTEH.; ROMAN.; DA. 1977; VOL. 39; NO 3; PP. 11-16; ABS. ANGL.; BIBL. 6 REF.Article

ZUR ERHOEHUNG DES INFORMATIONSGEHALTES BEI DER HOLOGRAPHIS CHEN INTERFEROMETRIE = L'ACCROISSEMENT DU CONTENU D'INFORMATION DANS L'INTERFEROMETRIE HOLOGRAPHIQUECUCUREZEANU I; CHISLEAG R; SUCIU P et al.1978; FEINGERAETETECHNIK; DDR; DA. 1978; VOL. 27; NO 12; PP. 537-538; BIBL. 6 REF.Article

A NEW HOLOGRAM INTERFEROMETRY MICROSCOPE FOR INTEGRATED CIRCUITSCUCUREZEANU I; CHISLEAG R; SUCIU P et al.1982; REVUE ROUMAINE DE PHYSIQUE; ISSN 0035-4090; ROM; DA. 1982; VOL. 27; NO 6-7; PP. 677-680; BIBL. 2 REF.Article

ON USING LENS-ASSISTED HOLOGRAM INTERFEROMETRY TO INVESTIGATE SEMICONDUCTOR DEVICE BEHAVIOURCHISLEAG R; SUCIU P; CUCUREZEANU I et al.1981; OPT. COMMUN.; ISSN 0030-4018; NLD; DA. 1981; VOL. 39; NO 6; PP. 351-356; BIBL. 10 REF.Article

  • Page / 1