kw.\*:("ETAT LOGIQUE")
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UN CONSIGNATEUR D'ETATS LOGIQUES ASSOCIANT LES LOGIQUES PROGRAMMEE ET CABLEE1979; MINIS ET MICROS; FRA; DA. 1979; VOL. 4; NO 102; PP. 33-36Article
LES ANALYSEURS LOGIQUES ET D'ETATS LOGIQUES: UN MARCHE AU BORD DE L'EXPLOSION.CUNTZ G.1976; ELECTRON. MICROELECTRON. INDUSTR.; FR.; DA. 1976; NO 217; PP. 16-23Article
UTILISATION DE LAMPES A DECHARGES VH 6 COMME INDICATEUR DE L'ETAT LOGIQUE DES CIRCUITS INTEGRESKRISTIN AA; TARDENAKS EH EH.1972; PRIBORY TEKH. EKSPER.; S.S.S.R.; DA. 1972; NO 6; PP. 131-132; BIBL. 1 REF.Serial Issue
DISCRIMINATION AND STATE STABILITY OF S-1 AND O BUBBLES IN A FIELD ACCESS RACETRACKKONISHI S; WATANABE F; SHIBATA N et al.1978; APPL. PHYS. LETTERS; USA; DA. 1978; VOL. 33; NO 5; PP. 471-473; BIBL. 5 REF.Article
L'ANALYSE LOGIQUE AUJOURD'HUI ET DEMAIN: DEUX VISGAES RADICALEMENT DIFFERENTSSCHWARTZ P.1981; ELECTRON. IND.; FRA; DA. 1981; NO 11; PP. 41-49Article
LASER SEANNING OF MOSIC'S REVEALS INTERNAL LOGIC STATES NONDESTRUCTIVELY.SAWYER DE; BERNING DW.1976; PROC. I.E.E.E.; U.S.A.; DA. 1976; VOL. 64; NO 3; PP. 393-394; BIBL. 3 REF.Article
STATE ASSIGNMENT AND ENTROPY.EDWARDS CR; ERIS E.1978; ELECTRON. LETTERS; GBR; DA. 1978; VOL. 14; NO 13; PP. 390-391; BIBL. 7 REF.Article
ROLE DE L'ANALYSEUR D'ETATS LOGIQUES DANS L'ETUDE DES SYSTEMES A MICROPROCESSEURS.DUSSAUSSOIS JJ; FLEYS M.1977; INTER. ELECTRON.; FR.; DA. 1977; NO 238; PP. 24-42 (7P.)Article
HEWLETT-PACKARD: DES SOLUTIONS NOUVELLES EN ANALYSEURS LOGIQUES.1975; TOUTE ELECTRON.; FR.; DA. 1975; NO 403; PP. 14-15Article
LOGIC STATE ANALYZERS A NEW INSTRUMENT FOR ANALYZING SEQUENTIAL DIGITAL PROCESSES.FARNBACH WA.1975; I.E.E.E. TRANS. INSTRUMENT. MEASUR.; U.S.A.; DA. 1975; VOL. 24; NO 4; PP. 353-356Article
A PROGRAMMABLE LOGIC STATE ANALYSER.RANJAN KUMAR SEN; AJIT PAL; CHOUDHURY AK et al.1977; J. INSTIT. ELECTRON. TELECOMMUNIC. ENGRS; INDIA; DA. 1977; VOL. 23; NO 7; PP. 434-439; BIBL. 2 REF.Article
STATE SEQUENCER DIAGRAMS. GRAPHIC LOGIC-DESIGN TOOLS LEAD DIRECTLY TO LOGIC-CONTROL EQUATIONS.BERGER W; RICKARD C.1976; DIGIT. DESIGN; U.S.A.; DA. 1976; VOL. 6; NO 11; PP. 44-50 (4P.)Article
LOGIC-STATE AND SIGNATURE ANALYSIS COMBINE FOR FAST, EASY TESTING.SPECTOR IH.1978; ELECTRONICS; USA; DA. 1978; VOL. 51; NO 12; PP. 141-145Article
EVALUATION AND DEBUG OF MICROPROCESSOR SYSTEMS USING A RECONFIGURABLE LOGIC STATE ANALYSER.KOLODY D.1977; EUROMICRO NEWSLETTER; NETHERL.; DA. 1977; VOL. 3; NO 3; PP. 46-52; BIBL. 4 REF.Article
ADAPTATION D'UN ANALYSEUR D'ETATS LOGIQUES A DES DONNEES SERIES.MORRILL JS.1977; ELECTRON. APPL. INDUSTR.; FR.; DA. 1977; NO 231; PP. 36-39Article
Contribution à l'étude de l'interaction entre un faisceau laser et un milieu semiconducteur. Applications à l'étude du latchup et à l'analyse d'états logiques dans les circuits intégrés en technologie CMOS = Contribution to the study of the interaction between a laser beam and a semiconductor. Applications to the study of latchup and to logic state analysis in CMOS Integrated CircuitsFouillat, Pascal; Dom, Jean-Paul.1990, 214 p.Thesis
Logic-state measurement for passivated integrated circuits using multistroboscopic samplingOKUBO, K; ANBE, T; ITO, A et al.Journal of vacuum science and technology. B. Microelectronics processing and phenomena. 1991, Vol 9, Num 1, pp 111-113, issn 0734-211XArticle
«Conception et réalisation d'un système de gestion de fichiers NFS efficace et sûr de fonctionnement» = «Design and implementation of a reliable and efficient NFS file system»Peyrouze, Nadine; Banatre, M.1995, 108 p.Thesis
Testing asynchronous circuits : a surveyHULGAARD, H; BURNS, S. M; BORRIELLO, G et al.Integration (Amsterdam). 1995, Vol 19, Num 3, pp 111-131, issn 0167-9260Article
Effets de «particules uniques» sur l'électronique du lanceur ARIANE = Single event effects on the electronic equipment of the ARIANE launcherBOURRIEAU, J.Onde électrique. 1995, Vol 75, Num 3, pp 38-43, issn 0030-2430Article
Etude des mécanismes de défaillance de mémoires vives statiques, développées en technologie CMOS silicium sur isolant, soumises à une impulsion photonique transitoire: approche expérimentale et simulation électrique = A study of the failure mechanisms of SRAMs, developed in CMOS silicon on insulator technology, during a dose-rate event: experimental and electrical simulation analysisMarec, Ronan; Palau, J.-M.1996, 132 p.Thesis