A method for checking X-ray diffractometer stability and its applicationFETISOV, G. V; MARKOV, V. T.Journal of applied crystallography. 1987, Vol 20, Num 4, pp 289-294, issn 0021-8898Article

Méthode statistique de mise en évidence de l'instabilité fugace des diffractomètres de rayons XMARKOV, V. T; FETISOV, G. V.Kristallografiâ. 1986, Vol 31, Num 5, pp 851-858, issn 0023-4761Article

On the interpretation of X-ray diffraction effects in ferroelectric crystals subjected to laser irradiationZHUKOV, S. G; FETISOV, G. V; ASLANOV, L. A et al.Journal of applied crystallography. 1992, Vol 25, pp 800-801, issn 0021-8898, 6Article

Influence of the specimen preparation method on the results of X-ray structural analysisFETISOV, G. V; ZHUKOV, S. G; KIRSCH, S. G et al.Soviet physics. Crystallography. 1992, Vol 37, Num 4, pp 461-465, issn 0038-5638Article

Mesure automatique et analyse de la distribution d'intensité d'une réflexion dans le volume balayé lors du choix des paramètres de balayageFETISOV, G. V; MARKOV, V. T; ZASTENKER, I. B et al.Kristallografiâ. 1987, Vol 32, Num 1, pp 29-33, issn 0023-4761Article

Software and methods for precise X-ray analysisCHERNYSHEV, V. V; FETISOV, G. V; LAKTIONOV, A. V et al.Journal of applied crystallography. 1992, Vol 25, pp 451-454, issn 0021-8898, 3Article

Méthode d'étude par diffraction de rayons X de cristaux fendillésFETISOV, G. V; IL'YASOVA, N. M; ZHUKOV, S. G et al.Kristallografiâ. 1989, Vol 34, Num 3, pp 602-606, issn 0023-4761, 5 p.Article

Effect of welding conditions on the magnitude of residual stresses in TsM10-VD alloy = Influence des conditions de soudage sur la répartition et la valeur des contraintes résiduelles dans l'alliage TsM10-VD à base de molybdèneVINOGRADOV, N. S; DEMKIN, YU. I; KARTYSHOV, N. G et al.Welding Production. 1982, Vol 29, Num 8, pp 29-30, issn 0043-230XArticle

Modélisation du profil d'intensité d'une réflexion de Bragg mesuré au diffractomètreCHULICHKOV, A. I; CHULICHKOVA, N. M; FETISOV, G. V et al.Kristallografiâ. 1987, Vol 32, Num 5, pp 1107-1114, issn 0023-4761Article

Profile analysis application in the modelling of multiwave diffractionNESTERENKO, A. P; ZHUKOV, S. G; FETISOV, G. V et al.Journal of applied crystallography. 1991, Vol 24, pp 910-912, issn 0021-8898, 5Article

An X-ray diffractometer for studying the effect of external fields on the structure and electron distribution of single crystalsASLANOV, L. A; TRUNOV, V. A; FETISOV, G. V et al.Journal of applied crystallography. 1989, Vol 22, Num 1, pp 42-45, issn 0021-8898, 4 p.Article

Modeling of Bragg intensity profiles. I: Allowance for crystal mosaicityLAKTIONOV, A. V; CHULICHKOV, A. I; CHULICHKOVA, N. M et al.Journal of applied crystallography. 1989, Vol 22, pp 315-320, issn 0021-8898, 4Article