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SUR LA MESURE DES RAPPORTS D'EMISSION DE DIFFERENTS ELEMENTS AVEC L'ANALYSEUR IONIQUE MUNI D'UN DEFLECTEUR ELECTROSTATIQUEDENNEBOUY R; SLODZIAN G.1978; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FRA; DA. 1978; VOL. 3; NO 5; PP. 451-455; ABS. ENGArticle

A LOW-COST ION IMPLANTATION SYSTEM.ANAND KV; EL DHALER A; BADAWI MH et al.1977; ELECTRON. ENGNG; G.B.; DA. 1977; VOL. 49; NO 600; PP. 43-47 (4P.); BIBL. 13 REF.Article

OPTIQUE IONIQUE RECENTE ET SPECTROMETRES DE MASSEMATSUDA H.1976; MASS SPECTROSC.; JAP.; DA. 1976; VOL. 24; NO 3; PP. 199-224; BIBL. 40 REF.Article

UNE OPTIQUE DE TRANSFERT POUR LE MICROANALYSEUR IONIQUESLODZIAN G.1978; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FRA; DA. 1978; VOL. 3; NO 5; PP. 447-449; ABS. ENG; BIBL. 2 REF.Article

ERZEUGUNG EINER IONEN-MIKROSONDE MITTELS FELDIONISATION UND EMISSIONSLINSE. = REALISATION D'UN MICROANALYSEUR IONIQUE REALISE PAR IONISATION DE CHAMP ET UNE LENTILLE A EMISSIONSCHWARZER R; GAUKLER KH.1978; VAKUUM-TECH.; DTSCH.; DA. 1978; VOL. 27; NO 1; PP. 2-5; ABS. ANGL. FR.; BIBL. 18 REF.Article

SPECTROMETRE DE MASSES AVEC UN PRISME IONIQUE ACHROMATIQUE BIDIMENSIONNELVOLZHENIN AI; KEL'MAN VM; MIT AG et al.1976; ZH. TEKH. FIZ.; S.S.S.R.; DA. 1976; VOL. 46; NO 9; PP. 1989-1992; BIBL. 4 REF.Article

SURFACE COILS TO IMPROVE THE HOMOGENEITY OF A GIVEN MAGNET.CZOK U; MORITZ G; WOLLNIK H et al.1977; NUCL. INSTRUM. METHODS; NETHERL.; DA. 1977; VOL. 140; NO 1; PP. 39-45; BIBL. 8 REF.Article

REFLECTRON DE MASSE LINEAIRE AVEC UNE PETITE CHAMBRE DE L'ANALYSEURSHMIKK DV.1981; Z. TEH. FIZ.; ISSN 0044-4642; SUN; DA. 1981; VOL. 51; NO 5; PP. 1024-1026; BIBL. 3 REF.Article

PRISME EN COIN AVEC DES CHAMPS MAGNETIQUES ET ELECTRIQUES SUPERPOSESGLIKMAN LG; KEL'MAN VM; PAVLICHKOVA OV et al.1977; ZH. TEKH. FIZ.; S.S.S.R.; DA. 1977; VOL. 47; NO 7; PP. 1361-1371; BIBL. 6 REF.Article

CONDITIONS DE FOCALISATION DES PARTICULES CHARGEES PAR DES CHAMPS MAGNETIQUES A SYMETRIE AXIALE AVEC DEPLACEMENT DES POLES AU-DELA DES LIMITES DU CHAMP (CAS PLAN)BONDARENKO VG; MALOV AF; SUZDALEV VA et al.1979; ZH. TEKH. FIZ.; SUN; DA. 1979; VOL. 49; NO 2; PP. 247-250; BIBL. 3 REF.Article

PRIMARY ION TETRODE OPTICS FOR HIGH TRANSPARENCY MULTI-BEAMLET NEUTRAL INJECTORSWHEALTON JH.1982; J. APPL. PHYS.; ISSN 0021-8979; USA; DA. 1982; VOL. 53; NO 4; PP. 2811-2817; BIBL. 37 REF.Article

Ion optics of multipole devices. I: Theory of the dodecapoleBOERBOOM, A. J. H; STAUFFER, D. B; MCLAFFERTY, F. W et al.International journal of mass spectrometry and ion processes. 1985, Vol 63, Num 1, pp 17-28, issn 0168-1176Article

DECOUPLAGE DES SYSTEMES D'OPTIQUE IONIQUE M+E POUR DES SPECTROMETRES DE MASSE A DEUX ETAGES DU TYPE SECTORIELGALL RN; TRUBACHEEV GM.1981; Z. TEH. FIZ.; ISSN 0044-4642; SUN; DA. 1981; VOL. 51; NO 2; PP. 367-372; BIBL. 7 REF.Article

VARIANTES SANS ABERRATION DES PRISMES MAGNETIQUES SYMETRIQUES FOCALISANTS A CHAMP HYPERBOLIQUEMALOV AF; TRUBACHEEV GM.1981; Z. TEH. FIZ.; ISSN 0044-4642; SUN; DA. 1981; VOL. 51; NO 6; PP. 1290-1292; BIBL. 4 REF.Article

THE EFFECT OF ROTATING THE ELEMENTS OF A QUADRUPOLE DOUBLET ON ITS OPTICAL PROPERTIESFRANC P.1980; CZECH. J. PHYS.; ISSN 0011-4626; CSK; DA. 1980; VOL. 30; NO 6; PP. 640-645; BIBL. 2 REF.Article

DISPOSITIF OPTIQUE POUR IMPLANTATION ET MICRO-USINAGE PAR PROJECTION D'IMAGES IONIQUESBERNHEIM M.1979; RAD. EFFECTS; GBR; DA. 1979; VOL. 44; NO 1-4; PP. 11-17; ABS. ENG; BIBL. 11 REF.Conference Paper

METHODE DE CALCUL DE LA FORME DES ELECTRODES POUR LA FORMATION D'UN FAISCEAU D'ELECTRONS ET D'IONS EN FORME DE COINBELKIN VM; KAMUNIN AA.1979; RADIOTEKH. I EHLEKTRON.; SUN; DA. 1979; VOL. 24; NO 1; PP. 142-145; BIBL. 4 REF.Article

SYSTEME DES COEFFICIENTS DE TRANSFORMATION LINEAIRE DU FAISCEAU DE PARTICULES CHARGEES PAR UN DIPOLE MAGNETIQUETARANTIN NI.1979; ZH. TEKH. FIZ.; SUN; DA. 1979; VOL. 49; NO 2; PP. 251-263; BIBL. 9 REF.Article

EFFECT OF ELECTRODE SHIELDING ON BEAMLET-BEAMLET INTERACTION IN MULTIAPERTURE SOURCESWHEALTON JH.1978; APPL. PHYS. LETTERS; USA; DA. 1978; VOL. 33; NO 8; PP. 697-698; BIBL. 7 REF.Article

THE DOUBLE TRANSMITTING FARADAY CUP: AN ION OPTICAL CONTROL DEVICEWELLS GF.1978; NUCL. INSTRUM. METHODS; NLD; DA. 1978; VOL. 153; NO 2-3; PP. 339-341; BIBL. 2 REF.Article

COMPUTER PROGRAM TRIO FOR THIRD ORDER CALCULATION OF ION TRAJECTORY.MATSUO T; MATSUDA H; FUJITA Y et al.1976; MASS SPECTROSC.; JAP.; DA. 1976; VOL. 24; NO 1; PP. 19-62; BIBL. 8 REF.Article

A MODIFIED CYLINDRICAL CONDENSER AS ELECTROSTATIC PRISM.LIEBL H.1976; INTERNATION. J. MASS SPECTROM. ION PHYS.; NETHERL.; DA. 1976; VOL. 22; NO 1-2; PP. 203-207; BIBL. 15 REF.Article

SPECTROMETRE DE MASSE A DOUBLE FOCALISATION A LENTILLES HEXAPOLAIRES ELECTROSTATIQUES DE CORRECTION DE L'IMAGECUNA C; IOANOVICIU D.1980; REV. ROUM. PHYS.; ISSN 0035-4090; ROM; DA. 1980; VOL. 25; NO 7; PP. 751-758; ABS. ENG; BIBL. 7 REF.Article

METHODE GENERALE DU CHOIX DES SYSTEMES D'OPTIQUE IONIQUE A CHAMPS MAGNETIQUES NON-UNIFORMES A SYMETRIE AXIALEBONDARENKO VG; MALOV AF.1980; Z. TEH. FIZ.; ISSN 0044-4642; SUN; DA. 1980; VOL. 50; NO 10; PP. 2174-2180; BIBL. 10 REF.Article

EXPERIMENTAL STUDY OF ION BEAM OPTICS IN A TWO-STAGE ACCELERATORKIM J; GARDNER WL; MENON MN et al.1979; REV. SCI. INSTRUM.; USA; DA. 1979; VOL. 50; NO 2; PP. 201-206; BIBL. 9 REF.Article

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