ZUM EINFLUSS VON FREMDSTOFFEN AUF DIE EIGENSCHAFTEN ELEKTROFOTOGRAFISCHER SELENSCHICHTEN = INFLUENCE DE MATERIAUX ETRANGERS SUR LES PROPRIETES D'UNE COUCHE DE SELENIUM ELECTROPHOTOGRAPHIQUEJANTOSS W; HERMS W.1982; WISSENSCHAFTLICHE ZEITSCHRIFT DER TECHNISCHEN HOCHSCHULE "OTTO VON GUERICKE"; ISSN 0541-8933; DDR; DA. 1982; NO 3; PP. 87-89; BIBL. 5 REF.Article

Messapparatur zur Untersuchung von Fotospannungen an dünnen Schichten hochohmiger Halbleiter = Appareil de mesure pour étudier des tensions photoélectriques sur de minces pellicules semiconductrices à grande résistance électrique = Measuring instrument to study photoelectric voltages on semiconductor high resistor thin filmsJANTOSS, W; HERMS, W.Wissenschaftliche Zeitschrift der Technischen Hochschule Otto von Guericke Magdeburg. 1987, Vol 31, Num 8, pp 60-62, issn 0541-8933Article

Photospannungen an dünnen amorphen Selenschichten = Tension photoélectrique de couches minces de sélénium amorphe = Photovoltage of thin amorphous Selenium layersJANTOSS, W; HERMS, N.Journal of information recording materials (1985). 1989, Vol 17, Num 4, pp 317-327, issn 0863-0453Article

Bismuth influence on the xerographic parameters of amorphous Se:Bi filmsBETTSTELLER, R; JANTOSS, W; HERMS, W et al.Physica status solidi. A. Applied research. 1994, Vol 146, Num 2, pp 653-658, issn 0031-8965Article

Zum Potentialverlauf in Metall-Halbleiter-Metall-Sandwichstrukturen = Répartition du potentiel dans une structure en sandwich métal-semiconducteur-métal = Potentiel repartition in a MSM structureZIEGLER, L; JANTOSS, W; HERMS, W et al.Wissenschaftliche Zeitschrift der Technischen Hochschule Otto von Guericke Magdeburg. 1984, Num 1, pp 136-141, issn 0541-8933Article