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Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) Formation des imagesKARLIK, Miroslav; JOUFFREY, Bernard.Techniques de l'ingénieur. Matériaux métalliques. 2008, Vol MB1, Num M4135, issn 1762-8733, M4135.1-M4135.14Article

Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) Analyse chimique localeKARLIK, Miroslav; JOUFFREY, Bernard.Techniques de l'ingénieur. Matériaux métalliques. 2008, Vol MB1, Num M4136, issn 1762-8733, M4136.1-M4136.9Article

Diffraction dans les métaux et alliages: conditions de diffraction = Diffraction in metals and alloysJOUFFREY, Bernard; PORTIER, Richard A.Techniques de l'ingénieur. Matériaux métalliques. 2007, Vol MB1, Num M4126, issn 1762-8733, M4126.1-M4126.20Article

Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) : Microscope, échantillons et diffractionKARLIK, Miroslav; JOUFFREY, Bernard.Techniques de l'ingénieur. Matériaux métalliques. 2008, Vol MB1, Num M4134, issn 1762-8733, M4134.1-M4134.16, Doc.M4134.1Article

Diffraction des métaux et alliages: Interactions particules-matière = Diffraction of metals and alloys : particle-matter interactionsJOUFFREY, Bernard; PORTIER, Richard A.Techniques de l'ingénieur. Matériaux métalliques. 2007, Vol MB1, Num M4125, issn 1762-8733, M4125.1-4125.16Article

Acquisition des images en microscopie électronique à balayage in situ = Image acquisition in «in situ» scanning electron microscopyLE FLOCH, Hervé; JOUFFREY, Bernard.1986, 178 pThesis

Diffraction électronique dans les métaux et alliages : illumination convergenteVERMAUT, Philippe; PORTIER, Richard A; JOUFFREY, Bernard et al.Techniques de l'ingénieur. Matériaux métalliques. 2008, Vol MB1, Num M4128, issn 1762-8733, M4128.1-M4128.21, Doc.M4128.1Article

Diffraction électronique : illumination parallèle = Electron diffraction : parallel illuminationPORTIER, Richard A; VERMAUT, Philippe; JOUFFREY, Bernard et al.Techniques de l'ingénieur. Matériaux métalliques. 2008, Vol MB1, Num M4127, issn 1762-8733, M4127.1-24, Doc M4127Article

Effets d'orientation cristalline et interférométrie en spectrométrie des pertes d'énergie d'électrons = Effects of crystal orientation and interferometry in Electron Energy Loss SpectroscopyNelhiebel, Michael; Jouffrey, Bernard.1999, 172 p.Thesis

CONTRIBUTION À L'ÉTUDE DU DURCISSEMENT DANS LES ALLIAGES LÉGERS : APPROCHE ATOMIQUE DANS LE CAS DE L'ALUMINIUM-CUIVRE = CONTRIBUTION TO THE STUDY OF THE HARDENING IN ALUMINIUM ALLOYS : ATOMIC SCALE APPROACH IN THE CASE OF ALUMINIUM-COPPERBelliot, Sylvain; Jouffrey, Bernard.1999, 144 p.Thesis

Étude d'un filtre d'énergie compact en Microscopie Électronique à Transmission : filtre en Φ = Study of a compact energy filter for Transmission Electron Microscopy : the Φ filterSouche, Cécile; Jouffrey, Bernard.1998, 142 p.Thesis

Propriétés thermiques et piézorésistives d'encres sérigraphiables en couche épaisse : application aux capteurs de pression = Piezoresistive and thermal properties of thick-film sreen printed inks : pressure sensors applicationsLefort, Marie-Helene; Jouffrey, Bernard.1997, 218 p.Thesis

Nanotubes de Nitrure de Bore Produits par Chauffage Laser Non-Ablatif : Synthèse, Caractérisation et Mécanismes de Croissance = Boron Nitride Nanotubes Grown by Non-Ablative Laser Heating : Synthesis, Characterisation and Growth ProcessesLaude, Thomas; Jouffrey, Bernard.2001, 182 p.Thesis

STABILITE SOUS IRRADIATION DE PARTICULES D'OXYDES FINEMENT DISPERSÉES DANS DES ALLIAGES FERRITIQUES = Stability under irradiation of a fire dispersion of oxides in a ferritic matrixMonnet, Isabelle; Jouffrey, Bernard.1999, 244 p.Thesis

Contribution à l'étude des nanotubes : structure et contrastes en microscopie électronique, enchevêtrements et comportement mécanique = Contribution for nanotubes study : Structure and contrasts in electron microscopy, Tangles and mechanical behaviourHamon, Ann-Lenaig; Jouffrey, Bernard.2001, 151 p.Thesis

Emission de champ électronique et ionique : remodelage d'une source électronique, dynamique d'une source ionique à métal liquideHadef, Bornia; Jouffrey, Bernard.1987, 105 p.Thesis

Microscopie électronique à transmission, numérique et quantitative : développement d'un outil interactif d'acquisition, simulation et analyse d'images = Quantitative, numerical transmission electron microscopy : design of a tool for interactive image acquisition, simulation and analysisSouchay, Henri; Jouffrey, Bernard.1999, 199 p.Thesis

Contribution à l'étude in situ du glissement et de la montée des dislocations dans un composé semiconducteur (3/5) : InSbFnaiech, Mustapha; Jouffrey, Bernard.1987, 132 p.Thesis

ETAT D'AVANCEMENT DES TRAVAUX DE CONSTRUCTION D'UN MICROSCOPE A BALAYAGE EN TRANSMISSION A 1,6 MVJOUFFREY BERNARD; TRINQUIER JACQUES.1981; ; FRA; DA. 1981; DGRST/78 7 3021; 8 P.; 30 CM; ACTION URGENTEReport

A geometrical study of single-walled nanotube ropes by transmission electron microscopyHAMON, Ann-Lenaig; MARRAUD, Alain; JOUFFREY, Bernard et al.Philosophical magazine. B. Physics of condensed matter. Statistical mechanics, electronic, optical and magnetic properties. 2001, Vol 81, Num 11, pp 1779-1799, issn 1364-2812Conference Paper

Electron energy-loss spectroscopy fine structure of the Cu L2,3 ionization edge in substitutional Cu-Ni alloysHEBERT, Cécile; CLAIR, Sylvain; EISENMENGER-SITTNER, Christoph et al.Journal of physics. Condensed matter (Print). 2001, Vol 13, Num 16, pp 3791-3803, issn 0953-8984Article

LE PROJET "MEBIS" DE MICROSCOPE A BALAYAGE FONCTIONNANT "IN SITU" = THE "MEBIS" PROJECT: A SCANNING MICROSCOPE OPERATING "IN SITU"JOUFFREY BERNARD; TRINQUIER JACQUES; FRANCESCHI JL et al.1982; ; FRA; DA. 1982; DGRST/80 7 0564; 18 P.; 30 CM; BIBL. 9 REF.; ACTION CONCERTEE: INSTRUMENTS DE MESUREReport

UN DISPOSITIF D'ENREGISTREMENT AUTOMATIQUE DES SPECTRES DE PERTES D'ENERGIE D'ELECTRONS OBTENUS EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRES HAUTE TENSIONJOUFFREY BERNARD; KIHN YOLANDE; PEREZ JOSE PHILIPPE et al.1979; ; FRA; DA. 1979; DGRST-75 7 1200; 7 F.; ACTION CONCERTEE: METALLURGIEReport

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