A SIMPLE METHOD FOR THE DETERMINATION OF PARAMETERS OF ION IMPLANTED DOPING PROFILES BY MEANS OF THRESHOLD VOLTAGE MEASUREMENTS OF MOSFET'S.LANDGRAF DIETZ D.1978; PHYS. STATUS SOLIDI, A; ALLEM.; DA. 1978; VOL. 45; NO 2; PP. K125-K129; BIBL. 8 REF.Article

STATISCHER 1024-BIT-SPEICHER U 202D = MEMOIRE STATIQUE A 1024 BITS U202 DLANDGRAF DIETZ D.1980; RADIO FERNSEHEN ELEKTRON.; DDR; DA. 1980; VOL. 29; NO 1; PP. 21-23Article

ANALYSEPROGRAM FUER BIPOLARTRANSISTOREN. = PROGRAMME D'ANALYSE POUR TRANSISTORS BIPOLAIRESTZOTSCHEW N; LANDGRAF DIETZ D.1976; NACHR.-TECH., ELEKTRON.; DTSCH.; DA. 1976; VOL. 26; NO 8; PP. 308-312; ABS. RUSSE ANGL. FR.; BIBL. 12 REF.Article

UNTERSUCHUNGEN AM HALBLEITERSPEICHER U 202 BD = RECHERCHES SUR LES MEMOIRES A SEMICONDUCTEURS U 202 BDMUENZER BG; LANDGRAF DIETZ D; KUEBART R et al.1982; RADIO FERNS. ELEKTRON.; ISSN 0033-7900; DDR; DA. 1982; VOL. 31; NO 3; PP. 150-153; BIBL. 2 REF.Article

INFORMATIONSSPEICHERUNG MIT HALBLEITERN = STOCKAGE DES INFORMATIONS A L'AIDE DE SEMI-CONDUCTEURSDIENER KH; ELSCHNER H; LANDGRAF DIETZ D et al.1972; Z. ELEKTR. INFORM.-U. ENERGIETECH.; DTSCH.; DA. 1972; VOL. 2; NO 3; PP. 151-164; BIBL. 1 P.Serial Issue

COMPUTERANALYSE NICHTSTATIONAERER VORGAENGE IN DER MIS-STRUKTUR. = ANALYSE ASSISTEE PAR ORDINATEUR DES PROCESSUS NON STATIONNAIRES DANS LES STRUCTURES MISDIENER KH; ELSCHNER H; KRAUSS M et al.1977; NACHR.-TECH., ELEKTRON.; DTSCH.; DA. 1977; VOL. 27; NO 2; PP. 71-72; BIBL. 2 REF.Article