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METHODE DE MESURE DE L'INDICE DE REFRACTION DE SUBSTANCES TRANSPARENTESODARICH VA.1974; OPT. I SPEKTROSK.; S.S.S.R.; DA. 1974; VOL. 37; NO 4; PP. 761-764; BIBL. 10 REF.Article

QUANTITATIVE PIEZOBIREFRINGENCE STUDIES OF DISLOCATIONS IN TRANSPARENT CRYSTALS.JENKINS DA; HREN JJ.1976; PHILOS. MAG.; G.B.; DA. 1976; VOL. 33; NO 1; PP. 173-180; BIBL. 5 REF.Article

ABERRATION DES RESEAUX DE DIFFRACTION TRANSPARENTS DANS DES FAISCEAUX NON PARALLELESPEJSAKHSON IV; ROMANOVA NG.1974; OPT.-MEKH. PROMYSL.; S.S.S.R.; DA. 1974; VOL. 41; NO 9; PP. 20-22; BIBL. 5 REF.Article

DE LA POSSIBILITE D'ETUDIER LE COEFFICIENT D'ABSORBTION DES MATERIAUX TRANSPARENTS EN FONCTION DE LA LONGUEUR D'ONDE, D'APRES LEUR RAYONNEMENT CALORIFIQUEGRAVEL LA; NOVIKOV YU B; DZHARASHNELI YU G et al.1975; OPT.-MEKH. PROMYSHL.; S.S.S.R.; DA. 1975; VOL. 42; NO 2; PP. 77-78; BIBL. 5 REF.Article

THEORIE DE LA FORMATION DES IMAGES DE FRESNEL DE TRANSPARENTS PERIODIQUES DE DIMENSIONS NON LIMITEESSMIRNOV AP.1977; OPT. I SPEKTROSK.; S.S.S.R.; DA. 1977; VOL. 43; NO 4; PP. 755-759; BIBL. 6 REF.Article

MECANIQUE DES MATERIAUX TRANSPARENTS.NICOLAS JR; THOMAS B.1974; MESURES REGUL. AUTOMAT.; FR.; DA. 1974; VOL. 39; NO 3; PP. 47-50; BIBL. 4 REF.Article

REVETEMENTS ELECTROCONDUCTEURS TRANSPARENTS A BASE D'OXYDES METALLIQUES TRES DISPERSIFSPETROV YU I; MANAEVSKIJ MA.1978; PRIBORY TEKH. EKSPER.; SUN; DA. 1978; VOL. 6; NO 1; PP. 226-228; BIBL. 8 REF.Article

LES ONDES HOMOGENES DANS LES CRISTAUX UNIAXE TRANSPARENTSFILIPPOV VV.1975; DOKL. AKAD. NAUK B.S.S.R.; S.S.S.R.; DA. 1975; VOL. 19; NO 1; PP. 19-22; BIBL. 5 REF.Article

SYSTEME OPTIQUE ELECTRONIQUE DE MESURE D'ANGLES POUR LE CONTROLE DE L'ANGLE DES COINS TRANSPARENTSYAKUSHENKOV YU G; ELISARENKO AS; SOLDATOV VP et al.1975; OPT.-MEKH. PROMYSHL.; S.S.S.R.; DA. 1975; VOL. 42; NO 5; PP. 27-28; BIBL. 4 REF.Article

METHODES OPTIQUES POUR LE DIAGNOSTIC DE MILIEUX ABSORBANTS SYMETRIQUES AXIALEMENT LIMITES AVEC DES PAROIS REFRACTANTES TRANSPARENTESKRYLOVA SI; LUJZOVA LA; KHAKHAEV AD et al.1974; OPT. I SPEKTROSK.; S.S.S.R.; DA. 1974; VOL. 37; NO 3; PP. 559-563; BIBL. 7 REF.Article

EVALUATION OF THE STRESS-OPTICAL COEFFICIENTS OF TRANSPARENT SOLID PLATES USING INTERFEROMETRYRAFTOPOULOS D; KARTALOPOULOS SV.1979; APPL. OPT.; USA; DA. 1979; VOL. 18; NO 17; PP. 2975-2976; BIBL. 13 REF.Article

INTERFEROMETRIC MEASUREMENT OF SHOCK-INDUCED INTERNAL PARTICLE VELOCITY AND SPATIAL VARIATIONS OF PARTICLE VELOCITY.ASAY JR; BARKER LM.1974; J. APPL. PHYS.; U.S.A.; DA. 1974; VOL. 45; NO 6; PP. 2540-2546; BIBL. 8 REF.Article

CERAMIQUES TRANSPARENTES POUR APPLICATIONS OPTOELECTRONIQUESGUTU NELLE A; SCHICHL H; SPRINGER J et al.1982; REVUE DES TELECOMMUNICATIONS; ISSN 0373-8582; FRA; DA. 1982; VOL. 57; NO 2; PP. 171-174; BIBL. 4 REF.Article

DISPOSITIF POUR LE CONTROLE DES BULLES ET DES INCLUSIONS DISPERSIVES POUR LA LUMIERE DANS LES PRODUITS TRANSPARENTSVASSERNIS RI; GALOYAN KV; PERLI BS et al.1977; OPT.-MEKH. PROMYSHL.; S.S.S.R.; DA. 1977; VOL. 44; NO 2; PP. 37-38; BIBL. 6 REF.Article

II. ANALYSE DES CONTRAINTES. EXTENSOMETRIE OPTIQUE A DETECTION SYNCHRONE.LELONG P; CHARMET JC; ROSSI C et al.1974; R.F.M.; FR.; DA. 1974; VOL. 4; NO 52; PP. 61-66; ABS. ANGL.; BIBL. 3 REF.Article

A PHOTOELASTIC DETERMINATION OF THE ELASTIC-PLASTIC BOUNDARYGDOUTOS EE.1979; J. PHYS. D; ISSN 0022-3727; GBR; DA. 1979; VOL. 12; NO 3; PP. 1317-1320; BIBL. 6 REF.Article

TRANSMISSION OF NORMALLY INCIDENT LIGHT THROUGH TRANSPARENT DIELECTRIC PLATES.KSHATRIYA A.1976; AMER. J. PHYS.; U.S.A.; DA. 1976; VOL. 44; NO 5; PP. 480-482; BIBL. 4 REF.Article

UTILISATION DE L'ANALYSE SUCCESSIVE POUR VERIFICATION DE L'HYPOTHESE DE LA NON-DISTINCTION DES MESURESBEN'YAMINOV BB.1975; ZAVODSK. LAB.; S.S.S.R.; DA. 1975; VOL. 41; NO 7; PP. 841-843; BIBL. 2 REF.Article

MESURE DE L'EPAISSEUR DE FAIBLES COUCHES TRANSPARENTES A L'AIDE DE L'INTERFEROMETRE MII-4MILOSLAVSKIJ VK; RYAZANOV AN.1974; IZMERITEL. TEKH.; S.S.S.R.; DA. 1974; NO 4; PP. 43-45; BIBL. 7 REF.Article

DU PROBLEME DE PHOTOVISCOELASTICITE LINEAIREHUIDU T.1973; AN. UNIV. BUCURESTI, MAT.-MEC.; ROMAN.; DA. 1973; VOL. 22; NO 1; PP. 47-67; ABS. ANGL.; BIBL. 20 REF.Article

ANALYSE AU MOYEN DE MICROSCOPE ELECTRONIQUE DE LA DESTRUCTION DES DIELECTRIQUES PAR L'ACTION DU RAYONNEMENTPOPLAVSKIJ AA; TIKHOMIROV GP; TUROVSKAYA TS et al.1972; ZH. TEKH. FIZ.; S.S.S.R.; DA. 1972; VOL. 42; NO 7; PP. 1462-1463; BIBL. 4 REF.Serial Issue

THERMALLY INDUCED LASER INTERFERENCE AND BIREFRINGENCE IN A METAL-COATED OPTICAL PLATEBERNARDO LM; ALMEIDA SP.1982; OPT. LETT.; ISSN 0146-9592; USA; DA. 1982; VOL. 7; NO 9; PP. 442-444; BIBL. 10 REF.Article

FABRY-PEROT LASER INTERFEROMETRY TO MEASURE REFRACTIVE INDEX OR THICKNESS OF TRANSPARENT MATERIALSLUNAZZI JJ; GARAVAGLIA M.1973; J. PHYS. E; G.B.; DA. 1973; VOL. 6; NO 3; PP. 237-240; BIBL. 2 REF.Serial Issue

ROLE OF CRACKS, PORES, AND ABSORBING INCLUSIONS ON LASER INDUCED DAMAGE THRESHOLD AT SURFACES OF TRANSPARENT DIELECTRICSBLOEMBERGEN N.1973; APPL. OPT.; U.S.A.; DA. 1973; VOL. 12; NO 4; PP. 661-664; BIBL. 12 REF.Serial Issue

FABRICATION OF BIREFRINGENT ANISOTROPIC MODEL MATERIALSRAMAMURTHY PRABHAKARAN.1980; EXP. MECH.; ISSN 0014-4851; USA; DA. 1980; VOL. 20; NO 9; PP. 320-321; BIBL. 10 REF.Article

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