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MICROSCOPE DE MESURE UNIVERSEL UIM-29SKVORTSOV YU S; MALAMED ER; ZABELIN VA et al.1978; OPT.-MEKH. PROMYSHL.; SUN; DA. 1978; VOL. 45; NO 7; PP. 75-76; BIBL. 2 REF.Article

MESSMIKROSKOP BK 70 X 50 ALS INTERFERENZMIKROSKOP ZUR PRUEFUNG VON OBERFLAECHEN HOECHSTER GUETE = MICROSCOPE DE MESURE BK 70 X 50 POUR LE CONTROLE, PAR INTERFERENCES, DE SURFACES DE TRES HAUTE QUALITESCHERF G.1980; FEINGERAETETECHNIK; ISSN 0014-9683; DDR; DA. 1980; VOL. 29; NO 3; PP. 135-136; BIBL. 6 REF.Article

ZUR DEFINITIONSGERECHTEN VERMESSUNG VON STRICHMASSTAEBEN MIT FOTOELEKTRISCHEN MIKROSKOPEN = MESURES CONFORMES AUX DEFINITIONS DES ECHELLES REPERES AVEC DES MICROSCOPES PHOTOELECTRIQUESWOSCHNI HG.1979; WISSENSCH. Z. FRIEDRICH-SCHILLER-UNIV. JENA, MATH.-NATURWISSENSCH. REIHE; DDR; DA. 1979; VOL. 28; NO 1; PP. 153-164; ABS. RUS/ENG; BIBL. 10 REF.Article

A LABORATORY STANDARD MICROSCOPE FOR THE MEASUREMENT OF HARDNESS IMPRESSIONS.MALIES H.1978; MICROSCOPE; GBR; DA. 1978; VOL. 26; NO 2; PP. 93-96Article

LINEWIDTH MEASUREMENT WITH AN OPTICAL MICROSCOPE: THE EFFECT OF OPERATING CONDITIONS ON THE IMAGE PROFILE.NYYSSONEN D.1977; APPL. OPT.; U.S.A.; DA. 1977; VOL. 16; NO 8; PP. 2223-2230; BIBL. 20 REF.Article

EIN DYNAMISCHES VERFAHREN ZUR FOTOELEKTRISCHEN STRUKTURMESSUNG = UNE METHODE DYNAMIQUE POUR LA MESURE DE STRUCTURES PHOTOELECTRIQUEENDTER R.1979; WISSENSCH. Z. FRIEDRICH-SCHILLER-UNIV. JENA, MATH.-NATURWISSENSCH. REIHE; DDR; DA. 1979; VOL. 28; NO 1; PP. 165-172; ABS. RUS/ENG; BIBL. 11 REF.Article

UNITES ADDITIONNELLES POUR LES NOUVEAUX MESUREURS EN DEUX COORDONNEES D'IENASCHERF G; GUNTHER M; BAUER G et al.1978; REV. IENA; DDR; DA. 1978; VOL. 18; NO 6; PP. 298-300; BIBL. 3 REF.Article

MESURE DES DIAMETRES D'OUVERTURES SUR UN MICROSCOPE UNIVERSEL A L'AIDE D'UN INDICATEUR ELECTRONIQUE DE CONTACTZHUKOVSKAYA AK; IGNAT'EV EB; SVERDLIK GI et al.1976; IZMERITEL. TEKH.; S.S.S.R.; DA. 1976; NO 10; PP. 24-26; BIBL. 9 REF.Article

ZUM DYNAMISCHEN FEHLER DES STATISCHEN ZWEIZELLEN-FOTOELEKTRISCHEN MIKROSKOPS FEM AUF GRUND ENDLICHER OBERER GRENZFREQUENZ. = ERREUR DYNAMIQUE DE 2 MICROSCOPES PHOTOELECTRIQUES DUE A LA FREQUENCE LIMITE SUPERIEURELOFFLER R.1976; WISSENSCH. Z. FRIEDRICH-SCHILLER-UNIV. JENA, MATH.-NATURWISSENSCH. REIHE; DTSCH.; DA. 1976; VOL. 25; NO 5; PP. 691-698; ABS. RUSSE ANGL.; BIBL. 6 REF.Article

DIREKTE KOPPLUNG VON SENSOREN MIT MIKRORECHNERN AUF DER BASIS DES U 808 = COUPLAGE DIRECT DE CAPTEURS AVEC DES MICROCALCULATEURS SUR LA BASE DU U808HOFMANN D; DRECHSEL A.1982; FEINGERATETECHNIK; ISSN 0014-9683; DDR; DA. 1982; VOL. 31; NO 10; PP. 457-459; BIBL. 8 REF.Article

AUTOMATIC HIGH SPEED MEASURING MICROSCOPE SYSTEMLOEWEN EG; MCCARTHY CJ; BURNS RH et al.1980; PRECIS. ENG.; GBR; DA. 1980; VOL. 2; NO 1; PP. 5-7Article

LE ZKM 02-250, UN NOUVEL APPAREIL DE MESURE EN DEUX COORDONNEES DU VEB CARL ZEISS JENAERBEN A; KUCHLER R; RIEGER P et al.1978; REV. IENA; DDR; DA. 1978; VOL. 18; NO 6; PP. 294-297; BIBL. 10 REF.Article

Gesichtspunkte beim Aufbau von CAD-Systemen am Beispiel der Justier- und Prüfmittel = Commentaires sur la construction de systèmes de conception assistée par ordinateur basés sur un examen de moyens de réglage et d'essai pris comme exemples = Aspects on arranging CAD systems at the example of adjusting and testing equipmentLANGBEIN, P; WARTENBERGER, D.Maschinenbautechnik. 1986, Vol 35, Num 5, pp 215-218, issn 0025-4495Article

EIN ELEKTRONEN-AUFLICHT-INTERFERENZMIKROSKOP ZUR PRAEZISIONSMESSUNG VON UNEBENHEITEN UND POTENTIALUNTERSCHIEDEN AUF OBERFLAECHEN = UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIR A INTERFERENCE POUR LA MESURE DE PRECISION DES IRREGULARITES DE SURFACE ET DES DIFFERENCES DE POTENTIEL ENTRE SURFACESLICHTE H.1979; P.T.B. MITT.; DEU; DA. 1979; VOL. 89; NO 4; PP. 229-236; ABS. ENG; BIBL. 10 REF.Article

MICROSCOPE A LASER A EFFET DOPPLERRINKEVICHYUS BS; TOLKACHEV AB; SUTORSHIN VN et al.1979; RADIOTEKH. I EHLEKRON.; SUN; DA. 1979; VOL. 24; NO 3; PP. 594-596; BIBL. 5 REF.Article

MIKROBOHRUNGEN: MESSUNGEN UND MESSGERAETE = MICROALESAGES: MESURES ET APPAREILS DE MESUREHOFFROGGE C; MANN R.1979; F.U.M.; DEU; DA. 1979; VOL. 87; NO 6; PP. 276-283; BIBL. 9 REF.Article

LA MESURE DES COORDONNEES AU MOYEN D'UN MICROSCOPE RELIE A UN CALCULATEUR.BADER HR; FARINE S.1977; BULL. ANNU. SOC. SUISSE CHRONOM. LAB. SUISSE RECH. HORLOG.; SUISSE; DA. 1977; VOL. 7; NO 3; PP. 315-319Article

FOTOELEKTRISCHE MIKROSKOPE ALS HILFSMITTEL ZUR OBJEKTIVEN VERMESSUNG EBENER OBJEKTE. = MICROSCOPES PHOTOELECTRIQUES, APPAREIL POUR MESURER OBJECTIVEMENT DES OBJETS PLANSWOSCHNI HG.1976; WISSENSCH. Z. FRIEDRICH-SCHILLER-UNIV. JENA, MATH.-NATURWISSENSCH. REIHE; DTSCH.; DA. 1976; VOL. 25; NO 5; PP. 683-690; ABS. RUSSE ANGL.; BIBL. 16 REF.Article

UNE TABLE POUR LE MICROSCOPEIVANOV AM.1976; IZMERITEL. TEKH.; S.S.S.R.; DA. 1976; NO 7; PP. 88-89; BIBL. 1 REF.Article

UNIFICATION DES INSTRUMENTS OPTIQUES DE CONTROLE ET DE MESUREDANILEVICH FM; SOKOLOV IA; GOLOD SD et al.1976; IZMERITEL. TEKH.; S.S.S.R.; DA. 1976; NO 7; PP. 35-36Article

OPTISCHES ANTASTEN VON BOHRUNGSWAENDEN MUT INTERFERENZLINIE BEI LAENGENMESSUNGEN MIT ZWEIKOORDINATENMESSGERAETEN = PALPAGE OPTIQUE DES PAROIS D'UN ALESAGE AVEC DES LIGNES D'INTERFERENCES DANS LE CAS DE LA MESURE DE LONGUEURS AVEC DES APPAREILS DE MESURE A DEUX COORDONNEESERBEN A; BOEHM U.1982; FEINGERAETETECHNIK; ISSN 0014-9683; DDR; DA. 1982; VOL. 31; NO 11; PP. 497-499; ABS. ENG/FRE/RUS; BIBL. 3 REF.Article

Binocular image-shearing microscopesSMITH, F. H.Advances in optical and electron microscopy. 1984, Vol 9, pp 223-242, issn 0065-3012Article

RAUHEITSMESSUNGEN MIT EINEM AUFLICHTMIKROSKOP = MESURE DE RUGOSITE GRACE A UN MICROSCOPE A LUMIERE REFLECHIEWASCHULL H.1979; FEINGERAETETECHNIK; DDR; DA. 1979; VOL. 28; NO 7; PP. 316-318; ABS. RUS/ENG/FRE; BIBL. 4 REF.Article

Aberration effects in an optical measuring microscopeKIRK, C. P.Applied optics. 1987, Vol 26, Num 16, pp 3417-3424, issn 0003-6935Article

Koordinatenmessgeräte mit optischen Messsystemen = Machine de mesure à coordonnées avec système de mesure optique = Coordinate measuring machine with optical measuring systemBECKER, H.VDI-Z. 1985, Vol 127, Num 10, pp 370-372, issn 0042-1766Article

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