A UNIVERSAL SYSTEM FOR MEASURING AND PROCESSING THE CHARACTERISTIC GEOMETRICAL AND OPTICAL MAGNITUDES OF MICROSCOPIC OBJETSPILLER H.1973; ADV. OPT. ELECTRON MICR.; G.B.; DA. 1973; VOL. 5; PP. 95-114; BIBL. 10 REF.Serial Issue

KANTENEINFARGMIKROSKOPE MIT DIGITALER OBJEKTABTASTUNG = MICROSCOPES DETECTEURS DE BORDS AVEC BALAYAGE NUMERIQUE DE L'OBJETSCHEDEWIE F.1973; OPTIK; DTSCH.; DA. 1973; VOL. 37; NO 4; PP. 404-414; ABS. ANGL.; BIBL. 6 REF.Serial Issue

COMPARAISON PRECISE DES MICROSCOPES DE MESURE PHOTOELECTRIQUESKAROVIC K.1973; JEMNA MECH. OPT.; CESKOSL.; DA. 1973; VOL. 18; NO 3; PP. 57-61; ABS. RUSSE ALLEM; BIBL. 12 REF.Serial Issue

UN NOUVEL OBJECTIF POUR UN GROSSISSEMENT DE MICROSCOPE DE 100 FOIS SUR LE MICROSCOPE DE MESURE UNIVERSEL, LE GRAND MICROSCOPE D'ATELIER ET LE MICROSCOPE DE MESURE BK 70/50 DU VEB CARL ZEISS JENAERBEN A; HULTZSCH E.1972; REV. IENA; ALLEM.; DA. 1972; NO 6; PP. 288-289; BIBL. 3 REF.Serial Issue

REDUCTION DE L'INFLUENCE DES ERREURS SYSTEMATIQUES POUR LE MICROSCOPE DE MESURE UNIVERSEL D'IENA PAR DES MESURES MULTIPLES.HULTZSCH E.1975; REV. IENA; ALLEM.; DA. 1975; VOL. 15; NO 4; PP. 194-196; BIBL. 3 REF.Article

LECTURE MICROMETRIQUE PERFECTIONNEE SUR LE MICROSCOPE DE MESURE BK 70 X 50.ERBEN A; HULTZSCH E.1975; REV. IENA; ALLEM.; DA. 1975; VOL. 15; NO 2; PP. 76; BIBL. 2 REF.Article

FOTOELEKTRISCHE MIKROSKOPE. = LES MICROSCOPES PHOTOELECTRIQUESKAROVIC K.1974; FEINGERAETETECHNIK; DTSCH.; DA. 1974; VOL. 23; NO 6; PP. 273Article

TRAITEMENT DU SIGNAL DE SORTIE D'UN MICROSCOPE PHOTOELECTRIQUE AVEC DES LAMES A FACES PARALLELES TOURNANTKAROVIC K; KRAJCOVIC I.1973; JEMNA MECH. OPT.; CESKOSL.; DA. 1973; VOL. 18; NO 4; PP. 97-112 (3 P.); ABS. RUSSE ALLEM. ANGL.; BIBL. 6 REF.Serial Issue

MEASURING MICROSCOPES.BIRK G.1976; METALS AUSTRAL.; AUSTRAL.; DA. 1976; VOL. 8; NO 2; PP. 31-32Article

MISE EN OEUVRE DU MICROSCOPE DE MESURE BK 70 X 50 DU VEB CARL ZEISS JENA AU VEB HALBLEITERWERK FRANCFORT/ODER.WOLBURG H; SCHERF G.1975; REV. IENA; ALLEM.; DA. 1975; VOL. 15; NO 2; PP. 73-75; BIBL. 3 REF.Article

ENSEMBLE D'ACCESSOIRES POUR LE CONTROLE DES MICROSCOPES UNIVERSELS DE MESUREIGNAT'EV EB; KOTLYARKER ME.1975; IZMERITEL. TEKH; S.S.S.R.; DA. 1975; NO 12; PP. 35-36; BIBL. 2 REF.Article

MEHRSCHICHT-T-BELAG FUER AUFLICHTBELEUCHTUNGSEINRICHTUNGEN DER FEINMEISSMIKROSKOPE DES VEB CARL ZEISS JENA. = DEPOT T A COUCHES MULTIPLES SUR LES DISPOSITIFS D'ECLAIRAGE DU MICROSCOPE DE MESURE DE PRECISION ZEISSERBEN A; HULTZSCH E.1975; FEINGERAETETECHNIK; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 24; NO 10; PP. 435-436; BIBL. 3 REF.Article

ZUM DYNAMISCHEN FEHLER DES STATISCHEN ZWEIZELLEN-FOTOELEKTRISCHEN MIKROSKOPS FEM AUF GRUND ENDLICHER OBERER GRENZFREQUENZ. = ERREUR DYNAMIQUE DE 2 MICROSCOPES PHOTOELECTRIQUES DUE A LA FREQUENCE LIMITE SUPERIEURELOFFLER R.1976; WISSENSCH. Z. FRIEDRICH-SCHILLER-UNIV. JENA, MATH.-NATURWISSENSCH. REIHE; DTSCH.; DA. 1976; VOL. 25; NO 5; PP. 691-698; ABS. RUSSE ANGL.; BIBL. 6 REF.Article

DISPOSITIF A DOUBLE IMAGE POUR LE PROJECTEUR DE MESURE MP 320 DU VEB. CARL ZEISS JENAERBEN A.1975; REV. IENA; ALLEM.; DA. 1975; VOL. 15; NO 4; PP. 179-182; BIBL. 6REF.Article

EIN DYNAMISCHES VERFAHREN ZUR FOTOELEKTRISCHEN STRUKTURMESSUNG = UNE METHODE DYNAMIQUE POUR LA MESURE DE STRUCTURES PHOTOELECTRIQUEENDTER R.1979; WISSENSCH. Z. FRIEDRICH-SCHILLER-UNIV. JENA, MATH.-NATURWISSENSCH. REIHE; DDR; DA. 1979; VOL. 28; NO 1; PP. 165-172; ABS. RUS/ENG; BIBL. 11 REF.Article

UNITES ADDITIONNELLES POUR LES NOUVEAUX MESUREURS EN DEUX COORDONNEES D'IENASCHERF G; GUNTHER M; BAUER G et al.1978; REV. IENA; DDR; DA. 1978; VOL. 18; NO 6; PP. 298-300; BIBL. 3 REF.Article

MESURE DES DIAMETRES D'OUVERTURES SUR UN MICROSCOPE UNIVERSEL A L'AIDE D'UN INDICATEUR ELECTRONIQUE DE CONTACTZHUKOVSKAYA AK; IGNAT'EV EB; SVERDLIK GI et al.1976; IZMERITEL. TEKH.; S.S.S.R.; DA. 1976; NO 10; PP. 24-26; BIBL. 9 REF.Article

OPTISCHES ANTASTEN VON PRUEFLINGEN MIT HILFE VON INTERFERENZLINIEN BEI LAENGEN- UND WINKELMESSUNGEN MIT MESSMIKROSKOPEN = PALPAGE OPTIQUE D'EPROUVETTES A L'AIDE DE LIGNES D'INTERFERENCES DANS LES MESURES DE LONGUEURS ET D'ANGLES AVEC DES MICROSCOPES DE MESUREERBEN A.1973; FLINGERAETETECHNIK; DTSCH.; DA. 1973; VOL. 22; NO 3; PP. 127-134; BIBL. 10 REF.Serial Issue

DIREKTE KOPPLUNG VON SENSOREN MIT MIKRORECHNERN AUF DER BASIS DES U 808 = COUPLAGE DIRECT DE CAPTEURS AVEC DES MICROCALCULATEURS SUR LA BASE DU U808HOFMANN D; DRECHSEL A.1982; FEINGERATETECHNIK; ISSN 0014-9683; DDR; DA. 1982; VOL. 31; NO 10; PP. 457-459; BIBL. 8 REF.Article

AUTOMATIC HIGH SPEED MEASURING MICROSCOPE SYSTEMLOEWEN EG; MCCARTHY CJ; BURNS RH et al.1980; PRECIS. ENG.; GBR; DA. 1980; VOL. 2; NO 1; PP. 5-7Article

LE ZKM 02-250, UN NOUVEL APPAREIL DE MESURE EN DEUX COORDONNEES DU VEB CARL ZEISS JENAERBEN A; KUCHLER R; RIEGER P et al.1978; REV. IENA; DDR; DA. 1978; VOL. 18; NO 6; PP. 294-297; BIBL. 10 REF.Article

MESSUNG VON INNENKEGELN MIT GERINGER UNSICHERHEIT = MESURE DE CONES INTERIEURS AVEC UNE FAIBLE IMPRECISIONLOTZE W; SCHMIDT W.1975; FEINGERAETETECHNIK; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 24; NO 7; PP. 311-314; BIBL. 5 REF.Article

UNTERSUCHUNGEN ZUR BEURTEILUNG DER QUALITAET VON STRICHMASSSTAEBEN HOHER PRAEZISION. = RECHERCHES SUR L'APPRECIATION DE LA QUALITE DES REGLES GRADUEES DE HAUTE PRECISIONBALHORN R; LEBOWSKY F; ULLRICH D et al.1975; P.T.B. MITT.; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 85; NO 4; PP. 279-282; ABS. ANGLArticle

Gesichtspunkte beim Aufbau von CAD-Systemen am Beispiel der Justier- und Prüfmittel = Commentaires sur la construction de systèmes de conception assistée par ordinateur basés sur un examen de moyens de réglage et d'essai pris comme exemples = Aspects on arranging CAD systems at the example of adjusting and testing equipmentLANGBEIN, P; WARTENBERGER, D.Maschinenbautechnik. 1986, Vol 35, Num 5, pp 215-218, issn 0025-4495Article

MIKROBOHRUNGEN: MESSUNGEN UND MESSGERAETE = MICROALESAGES: MESURES ET APPAREILS DE MESUREHOFFROGGE C; MANN R.1979; F.U.M.; DEU; DA. 1979; VOL. 87; NO 6; PP. 276-283; BIBL. 9 REF.Article