ZUR UNTERSUCHUNG INTEGRIERTER SCHALTKREISE MITTELS ELEKTRONENSPIEGELMIKROSKOPIE (SCHATTENABBILDUNG). = ETUDE DES CIRCUITS INTEGRES AVEC UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIR)KUHLMANN F; KNICK I.1977; EXPER. TECH. PHYS.; DTSCH.; DA. 1977; VOL. 25; NO 1; PP. 81-88; ABS. ANGL.; BIBL. 17 REF.Article

ZUR ABBILDUNG VON ISOLIERSCHICHTDEFEKTEN IM ELEKTRONENSPIEGELMIKROSKOP. = IMAGE DE DEFAUTS DE COUCHES ISOLANTES DANS LE MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIRWEIDNER G; WEISSMANTEL C; HERBERGER J et al.1975; KRISTALL U. TECH.; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 10; NO 3; PP. 295-303; ABS. ANGL.; BIBL. 11 REF.Article

AUTOMATISATION DE LA MESURE DE LA VARIATION DU TRAVAIL DE SORTIE SUR DES MICROSURFACES.DUPUY JC; LAYDEVANT L; ETIENNE S et al.1976; J. PHYS. E; G.B.; DA. 1976; VOL. 9; NO 3; PP. 176-178; ABS. ANGL.Article

ON THE INSTRUMENT CONSTANT FOR MAGNETIC CONTRAST IN MIRROR ELECTRON MICROSCOPYKACHNIARZ J; ZAREMBINSKI S.1981; OPTIK (STUTTG.); ISSN 0030-4026; DEU; DA. 1981; VOL. 59; NO 5; PP. 431-432; ABS. GER; BIBL. 5 REF.Article

CONTRASTE DES MICROCHAMPS MAGNETIQUES DANS UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIRGVOZDOVER RS.1972; RADIOTEKH. I ELEKTRON.; S.S.S.R.; DA. 1972; VOL. 17; NO 8; PP. 1697-1702; BIBL. 7 REF.Serial Issue

RELATION ENTRE LES PARAMETRES DU FAISCEAU D'IMAGE ET LES CARACTERISTIQUES OPTIQUES ELECTRONIQUES DE L'ILLUMINATEUR DANS UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIRARTAMONOV OM; KOMOLOV SA.1972; IZVEST. AKAD. NAUK S.S.S.R., SER. FIZ.; S.S.S.R.; DA. 1972; VOL. 36; NO 9; PP. 1961-1965; BIBL. 7 REF.Serial Issue

ZUR ELEKTRONENSPIEGELMIKROSKOPIE IN SCHATTENABBILDUNG MIT MONOCHROMATISIERTEN ELEKTRONEN. = MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A MIROIR AVEC ELECTRONS MONOCHROMATIQUESKUHLMANN F; HEIN U; BURKA C et al.1978; EXPER. TECH. PHYS.; DTSCH.; DA. 1978; VOL. 26; NO 3; PP. 285-295; ABS. ANGL.; BIBL. 43 REF.Article

ABBILDUNGSERSCHEINUNGEN AN ISOLATORSCHICHTEN IM ELEKTRONENSPIEGELMIKROSKOP UNTER STATIONAEREN AUFLADUNGSBEDINGUNGEN. = APPARITION D'IMAGES DE COUCHES ISOLANTES DANS UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIR SOUS DES CONDITIONS STATIONNAIRES DE CHARGEMENTWEIDNER G; WEISSMANTEL C; HERBERGER J et al.1975; KRISTALL U. TECH.; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 10; NO 3; PP. 285-293; ABS. ANGL.; BIBL. 13 REF.Article

REPRESENTATION DU MICROPOTENTIEL PERIODIQUE DANS UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIRARTAMONOV OM; KOMOLOV SA.1972; RADIOTEKH. I ELEKTRON.; S.S.S.R.; DA. 1972; VOL. 17; NO 7; PP. 1552-1554; BIBL. 6 REF.Serial Issue

ON MAGNETIC CONTRAST IN MIRROR ELECTRON MICROSCOPYKACHNIARZ J; ZAREMBINSKI S.1980; OPTIK (STUTTG.); ISSN 0030-4026; DEU; DA. 1980; VOL. 57; NO 2; PP. 287-290; ABS. GER; BIBL. 8 REF.Article

ON THE SOLUTION TO THE PROBLEM OF CONTRAST FORMATION IN MIRROR ELECTRON MICROSCOPYKACHNIARZ J; ZAREMBINSKI S.1980; OPTIK; DEU; DA. 1980; VOL. 55; NO 4; PP. 403-406; ABS. GER; BIBL. 6 REF.Article

YOUNG-FRESNELSCHER INTERFERENZVERSUCH MIT ZWEI NEBENEINANDER STEHENDEN SPIEGELN FUER ELEKTRONENWELLEN = EXPERIENCE D'INTERFERENCE DE YOUNG-FRESNEL AVEC DEUX MIROIRS COTE A COTE POUR ONDES ELECTRONIQUESMOLLENSTEDT G; LICHTE H.1978; OPTIK; DEU; DA. 1978; VOL. 51; NO 4; PP. 423-428; ABS. ENG; BIBL. 3 REF.Article

INFLUENCE DES VITESSES INITIALES DES ELECTRONS SUR LE CONTRASTE D'IMAGE DANS UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIRSEDOV NN; NAZAROV MV.1972; RADIOTEKH. I ELEKTRON.; S.S.S.R.; DA. 1972; VOL. 17; NO 11; PP. 2391-2398; BIBL. 4 REF.Serial Issue

METHODE DE CALCUL DU POTENTIEL EN TOUT POINT DE L'AXE DE L'OBJECTIF DE JOHANSSONBERGER C; BABOUT M.1972; C.R. ACAD. SCI., B; FR.; DA. 1972; VOL. 275; NO 10; PP. 333-336; BIBL. 4 REF.Serial Issue

PROPRIETES ELECTRONO-OPTIQUES D'UN MIROIR DE MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIR TRAVAILLANT EN REGIME D'OMBRE. ISEKUNOVA LM; YAKUSHEV EM.1975; ZH. TEKH. FIZ.; S.S.S.R.; DA. 1975; VOL. 45; NO 4; PP. 723-731; BIBL. 11 REF.Article

A NEW METHOD OF DETERMINATION OF THE POTENTIAL DISTRIBUTION AT THE SEMICONDUCTOR SURFACE IN A MIRROR ELECTRON MICROSCOPEKACHNIARZ J; ZAREMBINSKI S.1979; J. PHYS. E; GBR; DA. 1979; VOL. 12; NO 4; PP. 328-331; BIBL. 19 REF.Article

UNTERSUCHUNG DUENNER ISOLATORSCHICHTEN IN SANDWICH-ANORDNUNGEN MIT DEM ELEKTRONENSPIEGEL-MIKROSKOP = ETUDE A L'AIDE D'UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIR DE COUCHES MINCES ISOLANTES DISPOSEES EN SANDWICHHEYDENREICH J; GODEHARDT R; VESTER J et al.1978; KRISTALL U. TECH.; DEU; DA. 1978; VOL. 13; NO 4; PP. 355-361; ABS. ENG; BIBL. 17 REF.Article

THE ANALYSIS OF THE MIRROR AREA OF AN ELECTROSTATIC ELECTRON MIRROR MICROSCOPE.EL KAREH AB; GRORUD E.1975; OPTIK; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 41; NO 5; PP. 488-505; ABS. ALLEM.; BIBL. 10 REF.Article

DIFFERENTS TYPES DE CONTRASTES EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A MIROIR.DUPUY JC; BERGER C; LAYDEVANT L et al.1975; C.R. ACAD. SCI., B; FR.; DA. 1975; VOL. 281; NO 19; PP. 473-476; ABS. ANGL.; BIBL. 4 REF.Article

ZUR UNTERSUCHUNG ISOLIERENDER STOFFE IM ELEKTRONENSPIEGELMIKROSKOP MIT SCHATTENABBILDUNG. = ETUDE DE CORPS ISOLANTS AU MICROSCOPE ELECTRONIQUE A MIROIR AVEC FORMATION D'IMAGES OMBREESKUHLMANN F; GRADEWALD R; REIMANN J et al.1975; WISSENSCH. Z. UNIV. ROSTOCK, MAT.-NATURWISSENSCH. REIHE; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 24; NO 5; PP. 619-625; ABS. RUSSE ANGL. FR.; BIBL. 10 REF.Article

COLLOQUE ANNUEL DE LA SOCIETE FRANCAISE DE MICROSCOPIE ELECTRONIQUE. RESUMES DES COMMUNICATIONS; MONTREAL-QUE.; 1975.1975; J. MICR. BIOL. CELL.; FR.; DA. 1975; VOL. 23; NO 2; PP. 1A-88A; BIBL. DISSEM.Conference Paper

DEVELOPMENT OF SCANNING MIRROR ELECTRON MICROSCOPY FOR QUANTITATIVE EVALUATION OF ELECTRIC MICROFIELDS.SPIVAK GV; IVANNIKOV VP; LUK'YANOV AE et al.1978; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FRA; DA. 1978; VOL. 3; NO 2; PP. 89-100; BIBL. 24 REF.Article

MIRROR ELECTRON MICROSCOPY APPLIED TO THE CONTINUOUS LOCAL MEASUREMENT OF WORK-FUNCTION VARIATIONSBABOUT M; GUIVARCH M; PANTEL R et al.1980; J. PHYS. D; ISSN 0022-3727; GBR; DA. 1980; VOL. 13; NO 7; PP. 1161-1167; H.T. 1; BIBL. 11 REF.Article

DEVELOPPEMENT D'UNE OPTIQUE A HAUTE TENSION POUR L'ETUDE DES SURFACES PAR ELECTRONS LENTSDUPUY JEAN CLAUDE.1978; ; FRA; DA. 1978; 78004; 160 P.-4 PL.; 30 CM.; BIBL. 4 P.; TH.: SCI./LYON 1, I.N.S.A./1978Thesis

CONTRIBUTION A L'ETUDE DE LA REFLEXION ELASTIQUE DES ELECTRONS DE TRES BASSE ENERGIEBABOUT MICHEL.1978; ; FRA; DA. 1978; I-DE-78-014; (5)-176-(5) P.; 30 CM; BIBL. 5 P.; TH.: SCI./LYON 1, I.N.S.A./1978Thesis