ENGINEERING RELIABILITY MANAGEMENTDHILLON BS.1983; MICROELECTRONICS AND RELIABILITY; ISSN 0026-2714; GBR; DA. 1983; VOL. 23; NO 2; PP. 215-234; BIBL. 103 REF.Article

A PHOTOGRAMMETRIC TEST IMAGEZIEMANN H.1982; ADVANCES IN THE QUALITY OF IMAGE DATA. INTERNATIONAL SOCIETY FOR PHOTOGRAMMETRY AND REMOTE SENSING. COMMISSION 1 PRIMARY DATA ACQUISITION. INTERNATIONAL SYMPOSIUM/1982-04-14/CANBERRA; AUS; PERTH: KEVRON AERIAL SURVEYS; DA. 1982; PP. 230-233; BIBL. 1 REF.Conference Paper

ETUDE DE L'EFFET DU SALISSEMENT DU VERRE PROTECTEUR D'UN DISPOSITIF TELESCOPIQUE SUR SON POUVOIR DE RESOLUTIONDUBENSKOV VP; VASIL'EV V YA; POPOVA DYUMINA LN et al.1981; OPT.-MEH. PROM.; ISSN 0030-4042; SUN; DA. 1981; NO 10; PP. 36-39; BIBL. 3 REF.Article

GITTERSPEKTROGRAPHEN. = SPECTROGRAPHES A RESEAUSOLF J.1976; MITT. ASTR. GESELLSCH.; DTSCH.; DA. 1976; NO 40; PP. 13-22; BIBL. 12 REF.Article

SUR LA CONDITION DE RESOLUTION LIMITE DES SYSTEMES OPTIQUES LORS D'UN ECLAIREMENT PARTIELLEMENT COHERENTSTOLYAROV AD.1982; OPT. SPEKTROSK.; ISSN 0030-4034; SUN; DA. 1982; VOL. 53; NO 2; PP. 378-380; BIBL. 3 REF.Article

RESOLUTION, OVERLAY, AND FIELD SIZE FOR LITHOGRAPHY SYSTEMSBROERS AN.1981; IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES; ISSN 0018-9383; USA; DA. 1981; VOL. 28; NO 11; PP. 1268-1278; BIBL. 68 REF.Article

OPTIMISATION DU POUVOIR DE RESOLUTION DES DISPOSITIFS OPTIQUESRAMM AG; RODIONOV SA.1977; OPT. I SPEKTROSK.; S.S.S.R.; DA. 1977; VOL. 42; NO 3; PP. 540-545; BIBL. 8 REF.Article

RESOLUTION EN PROFONDEUR D'UNE STEREOPHOTOGRAPHIE A TRAMEMUZEUS LA.1983; GEODEZIJA I KARTOGRAFIJA; ISSN 0016-7126; SUN; DA. 1983; NO 2; PP. 53-56; BIBL. 5 REF.Article

FLUORESCENCE INTENSITY RESOLUTION IN FLOW SYSTEMSMCCUTCHEON MJ; MILLER RG.1979; J. HISTOCHEM. CYTOCHEM.; USA; DA. 1979; VOL. 27; NO 1; PP. 246-249; BIBL. 15 REF.Article

ZUR ELEKTRONENSPIEGELMIKROSKOPIE IN SCHATTENABBILDUNG MIT MONOCHROMATISIERTEN ELEKTRONEN. = MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A MIROIR AVEC ELECTRONS MONOCHROMATIQUESKUHLMANN F; HEIN U; BURKA C et al.1978; EXPER. TECH. PHYS.; DTSCH.; DA. 1978; VOL. 26; NO 3; PP. 285-295; ABS. ANGL.; BIBL. 43 REF.Article

ON THE HOLOGRAPHY BY OBJECT SCANNING.AGARWAL DC.1977; INDIAN J. THEOR. PHYS.; INDIA; DA. 1977; VOL. 25; NO 2; PP. 61-64; BIBL. 3 REF.Article

RADAR SUPERRESOLUTION. PERHAPS!JACKSON PL; RIHACZEK AW.1981; IEEE TRANS. AEROSP. ELECTRON. SYST.; ISSN 0018-9251; USA; DA. 1981; VOL. 17; NO 5; PP. 734-735; BIBL. 4 REF.Article

SENSIBILITE SPECTRALE ET POUVOIR DE RESOLUTION DU NOUVEAU FILM IR: "A-1060B"BREJDO II; SHAPIRO BI.1981; ASTRON. CIRK., IZD. BJURO ASTRON. SOOBSC. AKAD. NAUK SSSR; ISSN 0373-191X; SUN; DA. 1981; NO 1193; PP. 6-8Article

INFLUENCE DE LA COHERENCE DE LA LUMIERE SUR LA SEPARATION D'OBJETS PONCTUELSRYKHLOV AF.1980; Z. NAUCN. PRIKL. FOTOGR. KINEMATOGR.; ISSN 0044-4561; SUN; DA. 1980; VOL. 25; NO 6; PP. 424-426; BIBL. 4 REF.Article

GRATING SPECTROMETERS AND SPECTROGRAPHS RE- EXAMINEDBINGHAM RG.1979; QUART. J. R. ASTR. SOC.; GBR; DA. 1979; VOL. 20; NO 4; PP. 395-421; BIBL. 36 REF.Article

RESOLUTION DES HOLOGRAMMES A PLUSIEURS FAISCEAUXSHIVOTOV VK; KROTOV MF; SULEJMENOV MD et al.1978; ZH. TEKH. FIZ.; S.S.S.R.; DA. 1978; VOL. 48; NO 2; PP. 400-402; BIBL. 7 REF.Article

CHAMBRE A DERIVE POUR L'IDENTIFICATION DES PARTICULES LENTESZLOMANCHUK YU; NAVROT A; NIKITIN VA et al.1982; PRIB. TEH. EKSP.; ISSN 0032-8162; SUN; DA. 1982; NO 5; PP. 53-58; BIBL. 12 REF.Article

HOLOGRAPHIC IMAGING WITHOUT THE WAVELENGTH RESOLUTION LIMITWILLIAMS EG; MAYNARD JD.1980; PHYS. REV. LETT.; ISSN 0031-9007; USA; DA. 1980; VOL. 45; NO 7; PP. 554-557; BIBL. 3 REF.Article

OPTIMUM RESOLUTION IN X-RAY ENERGY-DISPERSIVE DIFFRACTOMETRY.BURAS B; NIIMURA N; STALIN OLSEN J et al.1978; J. APPL. CRYSTALLOGR.; DENM.; DA. 1978; VOL. 11; NO 2; PP. 137-140; BIBL. 8 REF.Article

PHOTOMASK LINEWIDTH MEASUREMENTSWYT SA; ROSBERRY FW; NYYSSONEN D et al.1978; CIRCUITS MANUF.; USA; DA. 1978; VOL. 18; NO 9; PP. 20-26; (4 P.)Article

CALCUL DU POUVOIR DE RESOLUTION D'UN SYSTEME PROJECTEUR AGRANDISSEUR POUR TIRAGE PHOTOGRAPHIQUELAPINA NN; ABRAMOV VM.1981; OPT.-MEH. PROM.; ISSN 0030-4042; SUN; DA. 1981; NO 9; PP. 8-11; BIBL. 16 REF.Article

LE MESUREUR DE LARGEURS DE TRAITS BMG-160 - UNE VARIANTE DU MICROSCOPE A PROJECTION EDOMSCHKE P; RINGEL F; SPRINGER R et al.1980; REV. IENA; ISSN 0373-9317; DDR; DA. 1980; VOL. 20; NO 2; PP. 70-71; BIBL. 3 REF.Article

PERTES DE POUVOIR DE RESOLUTION, LORS D'EXPOSITIONS DE LONGUE DUREE, DES CONVERTISSEURS OPTOELECTRONIQUES D'IMAGES A FOCALISATION ELECTROMAGNETIQUEAFANAS'EV VL; PIMONOV AA.1980; PRIB. TEH. EKSP.; ISSN 0032-8162; SUN; DA. 1980; NO 3; PP. 182-185; BIBL. 7 REF.Article

ROZDZIELCZOSC LINIOWA I TONALMA RASTROWYCH OBRAZOW LOTNICZYCH = POUVOIR SEPARATEUR LINEAIRE ET TON DES IMAGES AERIENNES TRAMEESGALACH H.1979; PRZEGL. GEOD.; POL; DA. 1979; VOL. 51; NO 12; PP. 10-15; BIBL. 7 REF.Article

APODIZATION FOR MAXIMUM STREHL RATIO AND SPECIFIED RAYLEIGH LIMIT OF RESOLUTION. IIWILKINS JE JR.1979; J. OPT. SOC. AM. (1930); ISSN 0030-3941; USA; DA. 1979; VOL. 69; NO 11; PP. 1526-1530; BIBL. 7 REF.Article