WAERMEPROBLEME BEIM MIKROKONTAKTIEREN VON HALBLEITERCHIPS = PROBLEME DU TRANSFERT DE CHALEUR LORS DE LA REALISATION DES MICROCONTACTS DES PUCES SEMICONDUCTRICESSEIDOWSKI T.1981; FEINGERAETETECHNIK; ISSN 0014-9683; DDR; DA. 1981; VOL. 30; NO 1; PP. 32-33; BIBL. 5 REF.Article

Zuverlaessigkeitsuntersuchungen an Mikroschweissstellen = Investigations on micro-weld reliabilitySTOJANOFF, H; SEIDOWSKI, T.Feingerätetechnik. 1982, Vol 31, Num 10, pp 463-465, issn 0014-9683Article

Wissensbasiertes System und Technologenarbeitsplätze für die MikroelektroniktechnologieSTANKE, K; WEINMEISTER, S; SEIDOWSKI, T et al.Wissenschaftliche Zeitschrift der Technischen Universität Dresden. 1990, Vol 39, Num 5, pp 92-94, issn 0043-6925Article

CARE Vision 2000: ein neuer Ansatz für die Verbesserung des Recyclings elektronischer Produkte unter Verwendung intelligenter Identifikationssysteme = CARE vision 2000: a new approach to the emprovement of the recycling of electronic products by the use of inteligent identification systemsSEIDOWSKI, T; DRESCHER, K; FISCHER, W.-J et al.Wissenschaftliche Zeitschrift der Technischen Universität Dresden. 1995, Vol 44, Num 4, pp 36-39, issn 0043-6925Article