DESIGN FOR TESTABILITY. A SURVEYWILLIAMS TW; PARKER KP.1982; IEEE TRANS. COMPUT.; ISSN 0018-9340; USA; DA. 1982; VOL. 31; NO 1; PP. 2-15; BIBL. 114 REF.Article

SIGNATURE ANALYSIS: A SYNTHETIC APPROACH FOR IDENTIFYING THE BEHAVIOUR OF LOGIC BOARDSD'ERCOLE S.1980; RIV. TEC. SELENIA; ITA; DA. 1980; VOL. 7; NO 1; PP. 1-7; BIBL. 11 REF.Article

WAS IST SIGNATURANALYSE. = QU'EST-CE QUE L'ANALYSE DE SIGNATURE.BECKMANN B; MUCHA J.1982; ELEKTRON. RECHENANAL.; ISSN 0013-5720; DEU; DA. 1982; VOL. 24; NO 1; PP. 16-18; BIBL. 6 REF.Article

L'ANALYSE DE SIGNATURE POUR LE TEST EN PRODUCTION DE CARTES A MICROPROCESSEURNATRASEVSCHI A.1981; ELECTRON. IND.; FRA; DA. 1981; NO 8; PP. 63-67Article

APPLYING SIGNATURE ANALYSIS TO EXISTING PROCESSOR-BASED PRODUCTSRHODES BURKE R.1981; ELECTRONICS; ISSN 0013-5070; USA; DA. 1981; VOL. 4; NO 54; PP. 127-133Article

SA ATTACKS BOARD FAULTS WITHOUT EXTRA HARDWARENATRASEVSCHI A.1980; ELECTRON DES.; ISSN 0013-4872; USA; DA. 1980; VOL. 28; NO 21; PP. 191-195; BIBL. 5 REF.Article

ALGORITHME DE TRI COMPLET DES ENSEMBLES DE TEST POUR LE DIAGNOSTIC DES CIRCUITS INTEGRES ET ANALYSE DE SIGNATURENOVIK G KH; STASHIN VV.1982; AVTOM. TELEMEH.; ISSN 0005-2310; SUN; DA. 1982; NO 8; PP. 162-164; ABS. ENG; BIBL. 6 REF.Article

CROP CLASSIFICATION WITH LANDSAT MULTISPECTRAL SCANNER DATA IIWHEELER SG; MISRA PN.1980; PATTERN RECOGNIT.; GBR; DA. 1980; VOL. 12; NO 4; PP. 219-228; BIBL. 7 REF.Article

THE SIGNATURE ANALYSIS OF SONIC BEARING VIBRATIONSBRAUN SG.1980; IEEE TRANS. SONICS ULTRASON.; ISSN 0018-9537; USA; DA. 1980; VOL. 27; NO 6; PP. 317-328; BIBL. 33 REF.Article

SIGNATURE, METHODE DE DEPANNAGE DES CARTES LOGIQUES AVEC LSI.HOURCADE JP.1978; MINIS ET MICROS; FR.; DA. 1978; VOL. 3; NO 64; PP. 16-19Article

UN CIRCUIT INTEGRE DE GENERATION ET ANALYSE DE VECTEURS POUR LE TEST DE CARTES A MICROPROCESSEUR = AN INTEGRATED CIRCUIT FOR BIT PATTERNS GENERATION/ANALYSIS FOR THE TEST OF MICROPROCESSOR-BASED BOARDSBORRIONE D; CAUBET B; COURTOIS B et al.1982; ; FRA; DA. 1982; IMAG-RR/293; 22 P.; 30 CM; ABS. ENG; BIBL. 2 P.;[RAPP. RECH.-LAB. INFORM. MATH. APPL. GRENOBLE; VOL. RR-293]Report

THE AFTERSHOCK OF THE MICROPROCESSOR EXPLOSIONHORDOS B.1979; MICROPROCESSEURS, UN OUTIL POUR LE FUTUR. JOURNEES D'ELECTRONIQUE 1979/1979/LAUSANNE; CHE; LAUSANNE: EPFL; DA. 1979; PP. 59-73; BIBL. 2 REF.Conference Paper

L'ANALYSE DE SIGNATURE.FLEYS M.1977; TOUTE ELECTRON.; FR.; DA. 1977; NO 421; PP. 41-47Article

L'ANALYSE DE SIGNATURE: UNE NOUVELLE PHILOSOPHIE DE LA MAINTENANCE.SCHWARTZ P.1977; ELECTRON. APPL. INDUSTR.; FR.; DA. 1977; NO 242; PP. 39-43Article

L'ANALYSE DE SIGNATURE SUR LE TESTEUR D'INSPECTION/FONCTIONNEL 3060A DE HEWLETT-PACKARD1980; MES., REGUL., AUTOM.; ISSN 0026-0193; FRA; DA. 1980; VOL. 45; NO 12; PP. 87Article

DESIGNING FOR TESTABILITY. MAINTAINING COMPLEX DIGITAL CIRCUITRY CAN BE A NIGHTMARELOWE L.1979; MICROPROCESS. AND MICROSYST.; GBR; DA. 1979; VOL. 3; NO 1; PP. 3-6; BIBL. 15 REF.Article

VERS LE TEST "IN-CIRCUIT" DES LSI DIGITAUX. LE CONTROLE INDIVIDUEL DE CIRCUITS LSI SUR CARTE HABILLEE, GRACE A L'ANALYSE DE SIGNATURE: UNE POSSIBILITE NOUVELLE EN TEST "IN-CIRCUIT"DAVAUT JF.1979; ELECTRON. APPL. INDUSTR.; FRA; DA. 1979; NO 273; PP. 27-30Article

LE TEST IN-CIRCUIT DE CARTES A LSI CHEZ ZEHNTEL PAR ANALYSE DE SIGNATUREPAPOUGNOT G.1978; ELECTRON. APPL. INDUSTR.; FRA; DA. 1978; NO 258; PP. 43-44Article

SIGNATURE ANALYSIS: A NEW DIGITAL FIELD SERVICE METHOD.FROHWERK RA.1977; HEWLETT-PACKARD J.; U.S.A.; DA. 1977; VOL. 28; NO 9; PP. 2-8; BIBL. 2 REF.Article

CROP CLASSIFICATION WITH LANDSAT MULTISPECTRAL SCANNER DATA.MISRA PN; WHEELER SG.1978; PATTERN RECOGNIT.; G.B.; DA. 1978; VOL. 10; NO 1; PP. 1-13; BIBL. 11 REF.Article

DESIGN FOR AUTONOMOUS TESTMCCLUSKEY EJ; SAIED BOZORGUI NESBAT.1981; IEEE TRANS. CIRCUITS SYST.; ISSN 0098-4094; USA; DA. 1981; VOL. 28; NO 11; PP. 1070-1079; BIBL. 21 REF.Article

TRACING FAULTS IN DIGITAL SYSTEMS WITH BIT STREAMSKELLY K.1980; CONTROL & INSTRUM.; ISSN 0010-8022; GBR; DA. 1980; VOL. 12; NO 9; PP. 39-41Article

TESTING BY FEEDBACK SHIFT REGISTERDAVID R.1980; IEEE TRANS. COMPUT.; ISSN 0018-9340; USA; DA. 1980; VOL. 29; NO 7; PP. 668-673; BIBL. 12 REF.Article

COMBINING IN-CIRCUIT AND FUNCTIONAL TESTINGMARKSTEIN HW.1979; ELECTRON. PACKAG. PRODUCT.; USA; DA. 1979; VOL. 19; NO 1; PP. 75-84; (6 P.)Article

LOGIC-STATE AND SIGNATURE ANALYSIS COMBINE FOR FAST, EASY TESTING.SPECTOR IH.1978; ELECTRONICS; USA; DA. 1978; VOL. 51; NO 12; PP. 141-145Article