High-speed guided-wave Ti:LiNbO₃ modulator for coherent communication systemsNOLL, B; ZEITLER, K.-H; EBERHARDT, U et al.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1988, Vol 17, Num 1, pp 25-26, issn 0370-9736Article

Planar buried-ridge-structure (PBRS) lasers with emission wavelengths of 1.3 μm and 1.55 μm for optical communication systemsTHULKE, W; ZACH, A; WOLF, H.-D et al.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1988, Vol 17, Num 1, pp 1-5, issn 0370-9736Article

Datenbanken und Expertensysteme = Base de données et systèmes experts = Database and expert systemsSCHÜTT, D; SCHWEPPE, H.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1988, Vol 17, Num 2, pp 74-78, issn 0370-9736Article

Maschinelles Lernen = Apprentissage automatique = Machine learningDEVINNEY, E. J; HECHT, A; REMMLE, W et al.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1988, Vol 17, Num 2, pp 69-73, issn 0370-9736Article

Modellierung komplexer Anwendungsbereiche in Prolog = Modélisation des domaines complexes d'application de Prolog = Modeling complex domains of application in PrologBÜRRNER, W.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1988, Vol 17, Num 2, pp 85-88, issn 0370-9736Article

Natürlichsprachlicher Beratungsdialog = Dialogue en langage naturel = Natural language consulting dialogueHAUGENEDER, H.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1988, Vol 17, Num 2, pp 79-84, issn 0370-9736Article

Wissensgestützte Fertigungsplanung = Planification de la production à base de connaissances = Knowledge-based production planningPANYR, J; SCHÜTT, D.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1988, Vol 17, Num 2, pp 95-98, issn 0370-9736Article

Monolithically integrated InGaAs/InP:Fe photodiode-junction field-effect transistor combinationALBRECHT, H; LAUTERBACH, C.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1988, Vol 17, Num 4, pp 195-198, issn 0370-9736Article

Eignungsvergleich geschmiedeter und geschweisster Turbinenwellen für hohe Dampftemperaturen = Comparaison d'arbres de turbine forgés ou soudés pour de hautes températures de vapeur = Comparison of the suitability of forged and welded turbine rotors for high steam temperaturesGOBRECHT, E; LUFT, H; MUHLE, E.-E et al.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1987, Vol 16, Num 5, pp 178-183, issn 0370-9736Article

A 4 megabit dynamic RAM in submicron CMOS technology with a FOBIC trench cellPRIBYL, W; HARTER, J; MÜLLER, W et al.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1987, Vol 16, Num 6, pp 253-260, issn 0370-9736Article

Design of thin-film heads for magnetic recordingRÖCKELEIN, R; SCHEWE, H.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1987, Vol 16, Num 6, pp 248-252, issn 0370-9736Article

Low temperature microtoming for scanning electron microscope investigation of incompatible polymer blendsROSE, W; MEURER, C.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1987, Vol 16, Num 3, pp 127-130, issn 0370-9736Article

A geometric modeller as part of a design systemRIMSCHA, M. V.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1987, Vol 16, Num 5, pp 205-209, issn 0370-9736Article

Mechanism of electrical conductivity in semi-conducting barium titanate ceramics. II: Extended model of electrical conductivityMADER, G; MEIXNER, H; KLEINSCHMIDT, P et al.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1987, Vol 16, Num 4, pp 131-135, issn 0370-9736Article

Radiographic imaging with storage phosphors: image qualityKLINGENBECK, K; CONRAD, B.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1987, Vol 16, Num 5, pp 192-198, issn 0370-9736Article

Wellenlängenselektiver koaxialer Lichtwellenleiter-Richtkoppler = Coupleur directionnel à guide d'onde optique coaxial sélectif en longueur d'onde = Wavelength-selective coaxial optical waveguide directional couplerBOCK, G.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1986, Vol 15, Num 1, pp 32-39, issn 0370-9736Article

Bipolar gate arrays in central processing unitsBRACKELMANN, W.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1986, Vol 15, Num 2, pp 49-59, issn 0370-9736Article

Ein Pascal ― Compiler für Vektorrechner = Un compilateur pascal pour processeurs vectoriels = A Pascal compiler for vector processorsHAMMER, C.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1986, Vol 15, Num 5, pp 229-233, issn 0370-9736Article

Untersuchungen zu einem Prozess für ein Wärmekraftwerk mit Ammoniak-Wasser als Arbeitsmedium = Recherches sur une centrale à cycle binaire ammoniac/eauFRIE, W.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1986, Vol 15, Num 2, pp 86-91, issn 0370-9736Article

Light-activated auxiliary thyristor for high-voltage applicationsMITLEHNER, H.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1985, Vol 14, Num 2, pp 50-55, issn 0370-9736Article

Protection of power MOSFETS from transient overvoltagesTIHANYI, J.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1985, Vol 14, Num 2, pp 56-61, issn 0370-9736Article

Analyse von Oberflächenschichten und Grenzflächen mit der Augerelektronen-Spektrometrie (AES) = Analyse de couches de surface et d'interfaces par spectrométrie électronique Auger (AES) = Analysis of surface films and interfaces by Auger electron spectrometry (AES)CRIEGERN, R. V; HILLMER, T; REHME, H et al.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1985, Vol 14, Num 4, pp 201-207, issn 0370-9736Article

Identifizierung kristalliner Phasen und Phasenkinetik von Festkörperreaktionen durch Pulver-Röntgendiffraktometrie = Identification des phases cirstallines et cinétique de phase au cours de réactions à l'état solide par diffractométrie RX sur poudre = Identification of the crystalline phases and phase kinetics of solid-state reactions by X-ray powder diffractometryGÖBEL, H. E.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1985, Vol 14, Num 4, pp 167-176, issn 0370-9736Article

Metallographie, Röntgen-Mikroanalyse und Röntgentopographie für die Technologieentwicklung und Prozessüberwachung elektronischer Bauelemente. II: Röntgen-Mikroanalyse und Röntgentopographie = Métallographie, microanalyse et topographie de rayons X en technologie des composants électroniques et contrôle des processus. II. Microanalyse et topographie de rayons X = Metallography, X-ray microanalysis and topography in electronic component technologic development and process control. II. X-ray microanalysis and topographyMEYER, A; PAPP, A.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1985, Vol 14, Num 6, pp 306-312, issn 0370-9736Article

Einfluss der Sputtertemperatur auf die Migrationsfestigkeit gesputte der Al-Si- und Al-Si-Ti-Leiterbahnen = Influence de la température de pulvérisation sur la résistance à la migration des connexions de Al-Si et Al-Si-Ti pulvérisées = Influence of sputtering temperature on the migration resistance of sputtered Al-Si and Al-Si-Ti metallizationSCHLEMM, A; STOCKINGER, H; FELLINGER, J et al.Siemens Forschungs- und Entwicklungsberichte. 1985, Vol 14, Num 5, pp 255-261, issn 0370-9736Article