PRODUCIBILITY: THE CRITICAL ENGINEERING MANUFACTURING INTERFACE1972; WESCON TECH. PAPERS; U.S.A.; DA. 1972; VOL. 16; PP. (24 P.); BIBL. DISSEM.Serial Issue

THE BS 9000 SYSTEM FOR ELECTRONIC COMPONENTS OF ASSESSED QUALITYCLARKSTONE KH.1973; POST OFF. ELECTR. ENGRS J.; G.B.; DA. 1973; VOL. 65; NO 4; PP. 228-233; BIBL. 4 REF.Serial Issue

PASSIVE COMPONENTS. COST AND RELIABILITY IMPROVEMENTS. = COMPOSANTS PASSIFS. AMELIORATIONS DU COUT ET DE LA FIABILITEROLFE D.1975; ELECTRON. ENERG; G.B.; DA. 1975; VOL. 47; NO 571; PP. 41-43Article

TECHNISCH-OEKONOMISCHE ASPEKTE DES AUFBRINGES PASSIVER BAUELEMENTE AUF LEITERPLATTEN. = ASPECTS TECHNICO-ECONOMIQUES DE L'APPLICATION DE COMPOSANTS PASSIFS SUR DES PLAQUETTES A CIRCUIT IMPRIMEBONTSCHEV V.1974; FEINGERAETETECHNIK; DTSCH.; DA. 1974; VOL. 23; NO 5; PP. 209-214; BIBL. 10 REF.Article

SYSTEMS RELIABILITY ATTAINMENT.ELIAS NJ.1974; AUTOMAT. ELECTR. TECH. J.; U.S.A.; DA. 1974; VOL. 14; NO 4; PP. 212-216; BIBL. 5 REF.Article

CALCUL DES TOLERANCES OPTIMALES DES PARAMETRES DES COMPOSANTS DES CIRCUITS ELECTRONIQUES EN PROJETPETRENKO AI; TETEL'BAUM A YA.1972; IZVEST. VYSSH. UCHEBN. ZAVED., RADIOELEKTRON.; S.S.S.R.; DA. 1972; NO 15; G; PP. 691-698; BIBL. 4 REF.Serial Issue

SYSTEMLOESUNG ZUM RATIONELLEN BESTUECKEN UND LOETEN VON ELEKTRONISCHEN BAUGRUPPEN = SYSTEMES RATIONNELS DE MONTAGE ET DE SOUDAGE DE COMPOSANTS ELECTRONIQUESMUTH D.1973; RADIO FERNECHEN ELEKTRON.; DTSCH.; DA. 1973; VOL. 22; NO 5; PP. 155-156Serial Issue

MASSNAHMEN ZUR SICHERUNG DER ZUVERLAESSIGKEIT VON BAUELEMENTEN BEIM HERSTELLER VON GERAETEN DER NACHRICHTENTECHNIK = MESURES A PRENDRE PAR LES FABRICANTS DE MATERIELS DE TELECOMMUNICATIONS POUR ASSURER LA FIABILITE DES COMPOSANTSHEINEMANN A.1980; FERNMELDE PRAXIS; DEU; DA. 1980; VOL. 57; NO 14; PP. 533-542; BIBL. 4 REF.Article

LE TEST AUTOMATIQUE DES COMPOSANTS ACTIFS ET PASSIFS1980; TOUTE ELECTRON.; ISSN 0040-9855; FRA; DA. 1980; NO 456; PP. 21-23Article

QUALITY ASSURANCE FOR COMPONENTSBELFI JL; GLENN FW; KEYSER CJ et al.1978; BELL LAB. REC.; USA; DA. 1978; VOL. 56; NO 11; PP. 296-302Article

THYRISTORS MESA OR PLANAR TECHNOLOGY.1978; NEW ELECTRON.; G.B.; DA. 1978; VOL. 11; NO 4; PP. 61-62Article

SOLDERING OF LEADLESS COMPONENTSRAHN A; WOODGATE RW.1983; ELECTRI.ONICS; ISSN 512907; USA; DA. 1983; VOL. 29; NO 1; PP. 13-14; BIBL. 6 REF.Article

LES COMPOSANTS EN EXPLOITATION. ANALYSE DES COMPOSANTS DEFECTUEUX.BOULAIRE JY; BOULET JP.1977; ECHO RECH.; FR.; DA. 1977; NO 89; PP. 16-23; ABS. ESP. ANGL.; BIBL. 7 REF.Article

BANELEMENTE DER LEISTUNGSELEKTRONIK AUS DER UDSSR. = LES COMPOSANTS DE L'ELECTRONIQUE DE PUISSANCE EN PROVENANCE DE L'URSSMORITZ J; RIMPLER R.1975; ELEKTRIE; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 29; NO 12; PP. 629-635; ABS. RUSSE ANGLArticle

STRUCTURES AND CHARACTERISTICS OF 400A-300V MONOLITHIC HIGH POWER TRANSISTORS.SAEKI S.1975; IN: PECS'75. POWER ELECTRON. SPEC. CONF.; CULVER CITY, CALIF.; 1975; NEW YORK; INST. ELECTR. ELECTRON. ENG.; DA. 1975; PP. 274-281; BIBL. 1 REF.Conference Paper

A NEW COMPLEMENTARY BIPOLAR TRANSISTOR STRUCTURESU SC; MEINDL JD.1973; SOLID STATE TECHNOL.; U.S.A.; DA. 1973; VOL. 16; NO 4; PP. 53-58Serial Issue

CAUSES OF STATIC CHARGE DEVELOPMENT AND EFFECTS ON ELECTRONIC DEVICESBERBECO GR.1980; INSULAT. CIRCUITS; USA; DA. 1980; VOL. 26; NO 3; PP. 20-22; BIBL. 9 REF.Article

COMPUTER CONTROL OF DIFFUSION SYSTEMSROCKHILL RA; WERYCH ER.1973; SOLID STATE TECHNOL.; U.S.A.; DA. 1973; VOL. 16; NO 2; PP. 29-32Serial Issue

COMPONENTS, SWITCHES AND DISPLAYS1978; ELECTRON. PACKAG. PRODUCT.; USA; DA. 1978; VOL. 18; NO 8; PP. 126-131Article

SYSTEME DE REFROIDISSEMENT DES BLOCS DE THYRISTORS DE HAUTE TENSIONROJZEN LI; POGORELOV YU M; RUBIN IR et al.1977; ELEKTROTEKHNIKA; S.S.S.R.; DA. 1977; NO 9; PP. 40-42; BIBL. 4 REF.Article

NICKEL-CHROMIUM RESISTOR FAILURE MODES AND THEIR IDENTIFICATIONKEENAN WF; RUNYAN WR.1973; MICROELECTRON. AND RELIABIL.; G.B.; DA. 1973; VOL. 12; NO 2; PP. 125-138; H.T. 4; BIBL. 31 REF.Serial Issue

ZERSTOERUNGSFREIE PRUEFUNG VON LOETSTELLEN = CONTROLE NON DESTRUCTIF DES SOUDURESFAULSTICH K.1973; FEINGERAETETECHNIK; DTSCH.; DA. 1973; VOL. 22; NO 1; PP. 13-14; BIBL. 7 REF.Serial Issue

IIEME CONGRES NATIONAL DE FIABILITE. PROCEEDINGS; PERROS-GUIREC; 1974.sdLANNION; IMPR. PUBLI-TREGOR; DA. S.D.; PP. 1-699; BIBL. DISSEM.; 2 VOLConference Paper

MICROWAVE TRANSISTORS1972; FUJITSU SCI. TECH. J.; JAP.; DA. 1972; VOL. 8; NO 3; PP. 153-175; BIBL. 16 REF.Serial Issue

PHOTODETECTOR ARRAY FOR A HOLOGRAPHIC OPTICAL MEMORY SYSTEM = RESEAU PHOTODETECTEUR POUR UN SYSTEME DE MEMOIRE OPTIQUE HOLOGRAPHIQUEYAMAOKA T; FUJIWARA T; NISHI H et al.1972; FUJITSU SCI. TECH. J.; JAP.; DA. 1972; VOL. 8; NO 3; PP. 137-151; BIBL. 5 REF.Serial Issue