TRIPLE CRYSTAL DIFFRACTOMETER INVESTIGATIONS OF SILICON CRYSTALS WITH DIFFERENT COLLIMATOR-ANALYZER ARRANGEMENTS = DREIKRISTALLDIFFRAKTOMETER-UNTERSUCHUNGEN VON SILIZIUMKRISTALLEN MIT VERSCHIEDENEN KOLLIMATOR-ANALYSATOR-ANORDNUNGEN = EXAMEN DES CRISTAUX DE SILICIUM AU DIFFRACTOMETRE A TROIS CRISTAUX POUR DIFFERENTES POSITIONS DU COLLIMATEUR ET DE L'ANALYSEURZAUMSEIL P; WINTER U.1982; PHYS. STATUS SOLIDI (A), APPL. RES.; DDR; DA. 1982-04; VOL. 70; NO 2; PP. 497-505; BIBL. 12 REF.Article

THE INFLUENCE OF THE DISPERSION AND VERTICAL DIVERGENCE ON THE REFLECTION CURVE OF A DOUBLE-CRYSTAL ARRANGEMENT = DER EINFLUSS DER DISPERSION UND DER VERTIKALDIVERGENZ AUF DIE REFLEXIONSKURVE EINER DOPPELKRISTALLANORDNUNG = INFLUENCE DE LA DISPERSION ET DE LA DIVERGENCE VERTICALE SUR LA COURBE DE REFLEXION D'UNE STRUCTURE BICRISTALLINEBRUEMMER O; EISENSCHMIDT C; NIEBER J et al.1982; CRYST. RES. TECH.; DDR; DA. 1982-04; VOL. 17; NO 4; PP. 509-513; BIBL. 3 REF.Article

UTILISATION D'UN DIFFRACTOMETRE X POUR L'ETUDE DU RAYONNEMENT FLUORESCENTMEL'NIK BA.1982; PRIB. TEH. EKSP.; ISSN 0032-8162; SUN; DA. 1982; NO 4; PP. 215-216; BIBL. 2 REF.Article

ASPECTS GEOMETRIQUES DANS LA CONSIDERATION DES FACTEURS D'APPAREIL POUR L'OBTENTION DE SPECTRES DE RAYONS X AVEC DES DIFFRACTOMETRES. I. RELATION INTEGRALE ENTRE LES SPECTRES VRAIS ET EXPERIMENTAUX TENANT COMPTE DES FACTEURS DE COLLIMATION (SCHEMA DES MONTAGES EN REFLEXION ET EN TRANSMISSION)NAGORNYJ VG; PLESHAKOV VF.1980; KRISTALLOGRAFIJA; ISSN 0023-4761; SUN; DA. 1980; VOL. 25; NO 3; PP. 607-610; BIBL. 4 REF.Article

WINDOWS FOR X-RAY DIFFRACTION EXPERIMENTSEWEN DA; WIRTH FW; HALLOCK RB et al.1981; REV. SCI. INSTRUM.; ISSN 0034-6748; USA; DA. 1981; VOL. 52; NO 1; PP. 71-74; BIBL. 10 REF.Article

A SPECTROMETER FOR X-RAY ENERGY-DISPERSIVE DIFFRACTION USING SYNCHROTRON RADIATIONOLSEN JS; BURAS B; GERWARD L et al.1981; J. PHYS. E; ISSN 0022-3735; GBR; DA. 1981; VOL. 14; NO 10; PP. 1154-1158; BIBL. 6 REF.Article

A PRINCIPAL DISTINCTION BETWEEN DIFFERENT KINDS OF X-RAY EQUIPMENT FOR RESIDUAL STRESS MEASUREMENTJAENSSON B.1980; MATER. SCI. ENG.; CHE; DA. 1980-04; VOL. 43; NO 2; PP. 169-176; BIBL. 4 REF.Article

EINSATZ VON SYNCHROTRONSTRAHLUNG ZUR KLAERUNG SPEZIELLER FRAGEN BEI DER ROENTGENSPANNUNGSANALYSE = UTILISATION DU RAYONNEMENT SYNCHROTRON POUR ECLAIRCIR DES POINTS PARTICULIERS LORS DE L'ANALYSE DES CONTRAINTES PAR RADIOGRAPHIERUPPERSBERG H.sdEUROPAEISCHE TAGUNG FUER ZERSTOERUNGSFREIE PRUEFUNG/1981/WIEN; AUT; DA. S.D.; PP. 85-86; ABS. ENG/FRE; BIBL. 13 REF.Conference Paper

AN AUTOCLAVE ATTACHMENT TO A PHILIPS X-RAY DIFFRACTOMETERHEUGEL W; PETERS T.1980; J. PHYS. E; ISSN 0022-3735; GBR; DA. 1980; VOL. 13; NO 3; PP. 280-281; BIBL. 1 REF.Article

MODERNISATION DU BLOC DE BALAYAGE DU DIFFRACTOMETRE X DRON-1NAZAROV YU N; FEDORENKO YU G.1978; PRIBORY TEKH. EKSPER.; SUN; DA. 1978; NO 6; PP. 185; BIBL. 2 REF.Article

STABILISATION DES ANGLES DANS LE SCHEMA OPTIQUE X DU DIFFRACTOMETRE DTS-1 A 2 CRISTAUXKUSHNIR VI; SUVOROV EH V.1981; PRIB. TEH. EKSP.; ISSN 0032-8162; SUN; DA. 1981; NO 5; PP. 185-187; BIBL. 4 REF.Article

CRYOSTAT X SANS VIDE A SYSTEME DE MAINTIEN AUTOMATIQUE DU NIVEAU DE L'AZOTE LIQUIDEBOJKO AA; BABAYANTS A; DENISOV VS et al.1976; PRIBORY TEKH. EKSPER.; S.S.S.R.; DA. 1976; NO 3; PP. 225-227; BIBL. 3 REF.Article

THE LEARNT-PROFILE METHOD IN FOUR-CIRCLE DIFFRACTOMETRY: THE VARIATION OF REFLEXION PEAK WIDTHCLEGG W.1981; ACTA CRYSTALLOGR., SECT. A, CRYST. PHYS., DIFFR., THEOR. GEN. CRYSTALLOGR.; ISSN 0567-7394; DNK; DA. 1981; VOL. 37; NO 3; PP. 437; BIBL. 3 REF.Article

TWO MODIFICATIONS OF COMMERCIAL UNITS AVAILABLE FOR THE AUTOMATION OF X-RAY DIFFRACTOMETERS.GADO P; KOVACS F.1977; J. APPL. CRYSTALLOGR.; DENM.; DA. 1977; VOL. 10; NO 6; PP. 503Article

ZUR VERWENDUNG VON MONITORVORRICHTUNGEN FUER ZAEHLROHRGONIOMETER = APPLICATION DES ARRANGEMENTS DE MONITEURS POUR LES DIFFRACTOMETRES DE RAYONS XZICKERT K; VANDREY JP; STEIL H et al.1980; EXPER. TECH. PHYS.; DDR; DA. 1980; VOL. 28; NO 1; PP. 63-68; ABS. ENG; BIBL. 7 REF.Article

CUVE ETANCHE POUR L'ETUDE DES ECHANTILLONS PULVERULENTS AU DIFFRACTOMETRE XBELITSKIJ IA; VALUEVA GP.1978; PRIBORY TEKH. EKSPER.; S.S.S.R.; DA. 1978; NO 2; PP. 254-256; BIBL. 2 REF.Article

ADAPTATEUR BASSE TEMPERATURE POUR DIFFRACTOMETRES XPROKHVATILOV AI; PRYTKIN VV.1981; PRIB. TEH. EKSP.; ISSN 0032-8162; SUN; DA. 1981; NO 4; PP. 243-244; BIBL. 1 REF.Article

DIFFRACTOMETRE DE RX DESTINE A L'ETUDE DES LIQUIDESKUZNETSOV VV; KALUGIN YU G; TROSTIN VN et al.1979; IZVEST. VYSSH. UCHEBN. ZAVED., KHIM. KHIM. TEKHNOL.; SUN; DA. 1979; VOL. 22; NO 12; PP. 1522-1523; BIBL. 8 REF.Article

LE NOUVEAU DIFFRACTOMETRE UNIVERSEL A RAYONS X HZG4 DU VEB FREIBERGER PRAEZISIONSMECHANIKLOSCHAU W; MORAS K; BOTTGER R et al.1978; REV. IENA; DDR; DA. 1978; NO 4; PP. 160-165; BIBL. 1 REF.Article

An automatic four-circle diffractometer designed for precise lattice-parameter determinationKUCHARCZYK, D; PIETRASZKO, A; ŁUKASEWICZ, K et al.Journal of applied crystallography. 1993, Vol 26, issn 0021-8898, p. 467, 3Article

ANALYSE DES PHASES PAR RX SUR LE DIFFRACTOMETRE DRON-1BOCHENIN VI.1978; ZAVODSK. LAB.; SUN; DA. 1978; VOL. 44; NO 9; PP. 1088-1090; BIBL. 4 REF.Article

Doing double-crystal diffraction experiments with a conventional four-circle diffractometerCHAO, W. K; GAO, E. Z; WONG, H. K et al.Review of scientific instruments. 1993, Vol 64, Num 9, pp 2558-2560, issn 0034-6748Article

A method of alignment of a four-circle diffractometer using a small collimator in the center of the Eulerian cradleGEREMIA, S; BURZLAFF, H; ROTHAMMEL, W et al.Journal of applied crystallography. 1994, Vol 27, pp 1061-1063, issn 0021-8898, 6Article

A rotating sample mouting device for a Guinier powder diffractometerBRÜDERL, G; BURZLAFF, H; PERDIKATSIS, B et al.Journal of applied crystallography. 1994, Vol 27, pp 127-128, issn 0021-8898, 1Article

A novel Guinier diffractometer with automated adjustment and settingsIHRINGER, J; RÖTTGER, K.Journal of physics. D, Applied physics (Print). 1993, Vol 26, Num 4A, pp A32-A34, issn 0022-3727Article