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001B60A72F Observation directe de dislocations et d'autres défauts (par piqûres d'attaque, décoration, microscopie électronique, topographie RX, etc.).
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Sciences exactes et technologie.
Intitulés
- en : Direct observation of dislocations and other defects (etch pits, decoration, electron microscopy, x-ray topography, etc.).
- fr : Observation directe de dislocations et d'autres défauts (par piqûres d'attaque, décoration, microscopie électronique, topographie RX, etc.).
Notation SKOS
001B60A72F
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