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Thermal stability of AuPt/n--GaAs Schottky contacts

Auteur
MACHAC, P1 ; PERINA, V2
[1] Institute of Chemical Technology, Technická 5, 166 28 Prague, Czech Republic
[2] Nuclear Physics Institute of Academy Sciences, 250 68 Rez near Prague, Czech Republic
Source

Journal of materials science. Materials in electronics. 2002, Vol 13, Num 5, pp 273-275 ; ref : 7 ref

ISSN
0957-4522
Domaine scientifique
Electronics; Condensed state physics
Editeur
Springer, Norwell, MA
Pays de publication
United States
Type de document
Article
Langue
English
Mot clé (fr)
Alliage binaire Barrière Schottky Caractéristique courant tension Composé binaire Contact ohmique Gallium arséniure Hauteur barrière Idéalité Or alliage Platine alliage Recuit thermique rapide Stabilité thermique Alliage AuPt As Ga Au Pt GaAs
Mot clé (en)
Binary alloy Schottky barrier Voltage current curve Binary compound Ohmic contact Gallium arsenides Barrier height Ideality Gold alloy Platinum alloy Rapid thermal annealing Thermal stability
Mot clé (es)
Aleación binaria Barrera Schottky Característica corriente tensión Compuesto binario Contacto óhmico Altura barrera Idealidad Oro aleación Platino aleación Recocido térmico rápido Estabilidad térmica
Classification
Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001D Sciences appliquees / 001D03 Electronique / 001D03F Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide / 001D03F01 Interfaces

Discipline
Electronics
Provenance
Inist-CNRS
Base de données
PASCAL
Identifiant INIST
13724784

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