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Spatial pattern discovery by learning a probabilistic parametric model from multiple attributed relational graphs

Auteur
PENGYU HONG1 ; HUANG, Thomas S2
[1] Science Center 601, Harvard University, 1 Oxford Street, Cambridge, MA 02138, United States
[2] Beckman Institute for Advanced Science and Technology, University of Illinois at Urbana-Champaign, Urbana, IL 61801, United States
Titre de la conférence
The 2001 International Workshop on Combinatorial Image Analysis (IWCIA 2001)
Nom de la conférence
IWCIA 2001: International Workshop on Combinatorial Image Analysis (Philadelphia, Pennsylvania 2001-08-23)
Auteur (monographie)
FOUREY, Sébastien (Editor)1 ; HERMAN, Gabor T (Editor)2 ; KONG, T. Yung (Editor)3 ; ROSENFELD, Azriel (Editor)4
[1] GREYC Image, ISMRA, 6 bd Maréchal Juin, 14050 Caen, France
[2] Ph.D. Program in Computer Science, Graduate School and University Center, CUNY, 365 5th Ave, New York, NY 10016, United States
[3] Computer Science Department, Queens College, CUNY, 65-30 Kissena Blvd., Flushing, NY 11367, United States
[4] Center for Automation Research, University of Maryland, College Park, MD 20742, United States
Source

Discrete applied mathematics. 2004, Vol 139, Num 1-3, pp 113-135, 23 p ; ref : 21 ref

CODEN
DAMADU
ISSN
0166-218X
Domaine scientifique
Control theory, operational research; Computer science; Mathematics
Editeur
Elsevier, Amsterdam / Elsevier, Lausanne / Elsevier, New York, NY
Pays de publication
Netherlands
Type de document
Conference Paper
Langue
English
Mot clé (fr)
Algorithme EM Apprentissage Conception Extraction forme Informatique théorique Maximisation Maximum vraisemblance Modèle probabiliste Méthode statistique Optimisation Reconnaissance forme 05Bxx 68R10 Algorithme combinatoire
Mot clé (en)
EM algorithm Learning Design Pattern extraction Computer theory Maximization Maximum likelihood Probabilistic model Statistical method Optimization Pattern recognition
Mot clé (es)
Algoritmo EM Aprendizaje Diseño Extracción forma Informática teórica Maximización Maxima verosimilitud Modelo probabilista Método estadístico Optimización Reconocimiento patrón
Classification
Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001A Sciences et techniques communes / 001A02 Mathematiques / 001A02B Combinatoire. Structures ordonnées / 001A02B01 Combinatoire / 001A02B01C Théorie des graphes

Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001A Sciences et techniques communes / 001A02 Mathematiques / 001A02H Probabilités et statistiques / 001A02H02 Statistiques / 001A02H02B Bases mathématiques

Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001D Sciences appliquees / 001D02 Informatique; automatique theorique; systemes / 001D02A Informatique théorique / 001D02A05 Algorithmique. Calculabilité. Arithmétique ordinateur

Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001D Sciences appliquees / 001D02 Informatique; automatique theorique; systemes / 001D02C Intelligence artificielle / 001D02C03 Reconnaissance des formes. Traitement numérique des images. Géométrie algorithmique

Discipline
Computer science : theoretical automation and systems Mathematics
Provenance
Inist-CNRS
Base de données
PASCAL
Identifiant INIST
15694308

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