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Ultraprecise atomic mass measurement of the α particle and 4He

Auteur
VAN DYCK, R. S1 ; ZAFONTE, S. L1 ; VAN LIEW, S1 ; PINEGAR, D. B1 ; SCHWINBERG, P. B1
[1] Department of Physics, University of Washington, Seattle, Washington 98195-1560, United States
Source

Physical review letters. 2004, Vol 92, Num 22, pp 220802.1-220802.4 ; ref : 27 ref

CODEN
PRLTAO
ISSN
0031-9007
Domaine scientifique
Optics; Atomic molecular physics; Condensed state physics; Physics; Plasma physics
Editeur
American Physical Society, Ridge, NY
Pays de publication
United States
Type de document
Article
Langue
English
Mot clé (fr)
Hélium 4 Masse atomique Particule alpha Résonance cyclotronique ionique
Mot clé (en)
Helium 4 Atomic weight Alpha particles Ion cyclotron resonance
Classification
Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001B Physique / 001B00 Generalites / 001B00F Métrologie, mesures et techniques de laboratoire / 001B00F20 Métrologie / 001B00F20J Constantes fondamentales

Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001B Physique / 001B30 Physique atomique et moleculaire / 001B30B Propriétés atomiques et interactions avec les photons / 001B30B10 Propriétés des atomes et des ions atomiques / 001B30B10B Masses atomiques, spectres de masse, abondances et isotopes

Discipline
Atomic and molecular physics Metrology
Provenance
Inist-CNRS
Base de données
PASCAL
Identifiant INIST
15886159

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