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The electrical conduction and dielectric strength of SU-8

Auteur
MELAI, Joost1 ; SALM, Cora1 ; SMITS, Sander1 ; VISSCHERS, Jan2 ; SCHMITZ, Jurriaan1
[1] Semiconductor Components, MESA+ Institute, University of Twente, Enschede, Netherlands
[2] NIKHEF, Amsterdam, Netherlands
Source

Journal of micromechanics and microengineering (Print). 2009, Vol 19, Num 6 ; 065012.1-065012.7 ; ref : 19 ref

ISSN
0960-1317
Domaine scientifique
Electronics; Mechanical engineering
Editeur
Institute of Physics, Bristol
Pays de publication
United Kingdom
Type de document
Article
Langue
English
Mot clé (fr)
Conduction électrique Courant fuite Diélectrique Emission thermoionique Epaisseur couche Epoxyde résine Haute tension Photorésist Résistance matériau Section variable
Mot clé (en)
Electrical conduction Leakage current Dielectric materials Thermionic emission Layer thickness Epoxy resin High voltage Photoresist Strength of materials Variable section
Mot clé (es)
Conductor eléctrico Corriente escape Dieléctrico Emisión termoiónica Espesor capa Epóxido resina Alta tensión Fotorresistencia Resistencia material Sección variable
Classification
Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001B Physique / 001B00 Generalites / 001B00G Instruments, appareillage, composants et techniques communs à plusieurs branches de la physique et de l'astronomie / 001B00G10 Techniques, équipements et instruments mécaniques / 001B00G10C Systèmes et dispositifs micromécaniques

Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001D Sciences appliquees / 001D03 Electronique / 001D03F Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide / 001D03F17 Fabrication microélectronique (technologie des matériaux et des surfaces)

Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001D Sciences appliquees / 001D12 Genie mecanique. Construction mecanique / 001D12I Mécanique de précision. Horlogerie

Discipline
Electronics Mechanical engineering. Mechanical construction. Handling Metrology
Provenance
Inist-CNRS
Base de données
PASCAL
Identifiant INIST
21616074

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